Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

#3 в tester_config.h нормально названы пины для ключей. переменные надо будет потом переименовать

Browse Source
This commit is contained in:
Razvalyaev 2024-12-19 18:54:45 +03:00
parent 24b6295935
commit 10e7859af7
3 changed files with 46 additions and 15 deletions
Show Stats Download Patch File Download Diff File Expand all files Collapse all files

25
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@ -23,7 +23,14 @@
* @brief Задержка (миллисекундная) для положительного напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Пока только миллисекунды, т.к. меньше я пока не реализовал, да и как понимаю не требуется
*/
#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 1500
#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 2000
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/
#define DEF_DEADTIME 500
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
@ -47,7 +54,7 @@
* @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 200
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 2000
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT (0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
/** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG
@ -98,7 +105,7 @@
* @brief Конфигурации для ключей питания
@{
*/
//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< Использовать для переключения пинов HAL функции
#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< Использовать для переключения пинов HAL функции
#define ALL_SW_USE_SAME_PORT ///< Дефайн указывающий что все пины будут иметь один порт (для ускорения переключения)
/* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
@ -107,16 +114,16 @@
/* Ключи для подключения положительного питания к диоду */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_DC_POSITIVE_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_DC_POSITIVE_GND_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_DC_POSITIVE_VDD_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин второго ключа для напряжения положительного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_A_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_PHASE_A_HI_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_PHASE_A_LO_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для напряжения положительного источника ппитания
/* Ключи для подключения отрицательного питания к диоду */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_DC_NEGATIVE_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_DC_NEGATIVE_GND_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_DC_NEGATIVE_VDD_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин первого ключа для напряжения отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_B_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_B_HI_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_B_LO_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для напряжения отрицательного источника ппитания
/** TESTER_POWER_SW_CONFIG
* @}

12
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@ -167,14 +167,14 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
tester->mbdata->Coils.NegativeTest = 1;
/* Настройка пинов для подключения отрицательного источника */
tester->htest->DCNegSw.SW_Port = SWITCH_DC_NEGATIVE_Port;
tester->htest->DCNegSw.SwGND_Pin = SWITCH_DC_NEGATIVE_GND_Pin;
tester->htest->DCNegSw.SwVDD_Pin = SWITCH_DC_NEGATIVE_VDD_Pin;
tester->htest->DCNegSw.SW_Port = SWITCH_PHASE_B_Port;
tester->htest->DCNegSw.SwGND_Pin = SWITCH_PHASE_B_HI_Pin;
tester->htest->DCNegSw.SwVDD_Pin = SWITCH_PHASE_B_LO_Pin;
/* Настройка пинов для подключения положительного источника */
tester->htest->DCPosSw.SW_Port = SWITCH_DC_POSITIVE_Port;
tester->htest->DCPosSw.SwGND_Pin = SWITCH_DC_POSITIVE_GND_Pin;
tester->htest->DCPosSw.SwVDD_Pin = SWITCH_DC_POSITIVE_VDD_Pin;
tester->htest->DCPosSw.SW_Port = SWITCH_PHASE_A_Port;
tester->htest->DCPosSw.SwGND_Pin = SWITCH_PHASE_A_HI_Pin;
tester->htest->DCPosSw.SwVDD_Pin = SWITCH_PHASE_A_LO_Pin;
/* Настройка пинов для кнопки старта */

24
diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
View File

@ -160,6 +160,26 @@
<WinNumber>1</WinNumber>
<ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>2</count>
<WinNumber>1</WinNumber>
<ItemText>&amp;tester-&gt;mbdata-&gt;Coils.Mode</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>3</count>
<WinNumber>1</WinNumber>
<ItemText>axa</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>4</count>
<WinNumber>1</WinNumber>
<ItemText>*(uint16_t *)(&amp;tester-&gt;mbdata-&gt;Coils) &amp; (1&lt;&lt;3)</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>5</count>
<WinNumber>1</WinNumber>
<ItemText>tester-&gt;mbdata-&gt;Coils</ItemText>
</Ww>
</WatchWindow1>
<WatchWindow2>
<Ww>
@ -243,6 +263,10 @@
<Name>System Viewer\GPIOA</Name>
<WinId>35904</WinId>
</Entry>
<Entry>
<Name>System Viewer\GPIOB</Name>
<WinId>35901</WinId>
</Entry>
<Entry>
<Name>System Viewer\GPIOC</Name>
<WinId>35905</WinId>