# Diod_Test ## Управление тестером Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 `StartTest`. Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах: - 0: `ForwardTest` - тест диода в прямом включении (напряжение при прямом вкючении) - 1: `ReverseTest` - тест диода в обратном включении (скачок напряжения при обратном вкючении) Если включены оба, то будет тест скачка напряжения при переходе от прямого подлключения к обратному. Можно переключать отдельные ключи по коилам №3-6: - 3: `PhaseForwardHiTest` - включение и отключение ключа верхнего плеча фазы А (прямое включение) - 4: `PhaseForwardLoTest` - включение и отключение ключа нижнего плеча фазы А (прямое включение) - 5: `PhaseReverseHiTest` - включение и отключение ключа верхнего плеча фазы Б (обратное включение) - 6: `PhaseReverseLoTest` - включение и отключение ключа нижнего плеча фазы Б (обратное включение) Результаты измерений при разных включениях записываются в input регистры №0-1: - 0: `ForwardVoltage` - измеренное напряжение при прямом включении - 1: `ReversePeakVoltage` - максимальный скачок напряжения при обратном включении ## Настройка таймингов Тайминги выставляются в holding регистрах №0-4: - 0: `TimeForForward` - время на которое диод включается в прямом направлении (только мс) - 1: `TimeBeforeTest` - время которое выжидается перед началом тестирования (мс или мкс) - 2: `TimeDeadtime` - время между переключениями фаз (мс или мкс) - 3: `TimeBeforePeak` - время между включением АЦП и подключением обратного напряжения (мс или мкс) - 4: `TimeBeforeDisconnect` - время на которое подключается обратное напряжение (мс или мкс) В коилах №16-19, можно выставить флаги - включить миллисекундную задержку вместо микросекундной для соответствующего тайминга: - 16: `msTimeBeforeTest_enable` - 17: `msTimeDeadtime_enable` - 18: `msTimeBeforePeak_enable` - 19: `msTimeBeforeDisconnect_enable` ## Настройка АЦП Настройки АЦП выставляются в holding регистрах №5-9: - 5: `Adc_PulseWidth` - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп. На основе этого параметра берется выборка по которой расчитывается среднее значение пик (пик +-Adc_PulseWidth/2) - 6: `Adc_PulseSign` - полярность скачка напряжения при обратном включении - 7: `Adc_CalibrValue` - калибровочное значение ацп - 8: `Adc_ZeroValue` - нулевое значение ацп - 9: `Adc_U_Calibr` - калибровочное напряжение ацп Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)` # Тестирование ## Тест в прямом подключении (`TESTER_TestDiode_Forward`) - ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test` - включается АЦП в континуес режиме - диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`. - считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего. и так по кругу пока диод подключен - после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt`. ## Тест в обратном подключении (`TESTER_TestDiode_Reverse`) - ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test` - включается АЦП в дма режиме - ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak` - диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`, и отключается - после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода `htest->DiodeReversePeakVolt`. ## Тест перехода из прямого подключении в обратное (`TESTER_TestDiode_SwitchConnection`) - ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test` - диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward` - после истечения задержки сохраняется прямое напражение на диоде - диод отключается от питания и выжидается мертвое время `ticks_deadtime` - включается АЦП в дма режиме - ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak` - диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect` - дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt` и скачок при обратном `htest->DiodeReversePeakVolt`. # Внутренняя настройка В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (`TESTER_Set_Default_Settings`) После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (`TESTER_UpdateSettings`). Она вызывается перед каждым тестом. ## tester_config.h Содержит дефолтные настройки для таймингов (`TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG`): - количество тиков и дефайн для включения миллисекундной разных задержек. для светодиода и кнопки (`TESTER_INTERFACE_CONFIG`): - состояния пина для включения и выключения светодиода - порт и пин светодиода - частоты моргания для разных режимов работы - состояния пина при нажатой и отжатой кнопки - порт и пин кнопки - задержка для выжидания дребезга для управления ключами (`TESTER_PHASE_SW_CONFIG`): - `USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS` - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее - `RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME` - отключить дедтайм при переключении. Если отключить еще и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс). Хз надо ли такое, но возможность есть - порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей) - порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей) для АЦП (`TESTER_ADC_CONFIG`): - размер dma буффера (`ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE`) - калибровочное напряжение АЦП (`ADC_U_CALIBR`) - значение АЦП при калибровочном напряжении (`ADC_VALUE_CALIBR`) - значение АЦП при нулевом напряжении (`ADC_VALUE_ZERO`) - таймаут на чтение АЦП (`ADC_READ_TIMEOUT_MS`) - ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (`TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH`) Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)` ## Структуры для настроек Настройки для таймингов записываются в структуру `SwTimings`, которая находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`. Настройки светодиода и кнопки записываются в структуры `leds.LED1` и `SwStart`. Они находятся в структуре проекта `TESTER` Настройки для портов и пинов ключей записываются в структуры `SwPhaseForward` и `SwPhaseReverse`, которые находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`. Настройки для АЦП записыватся в структуру `TESTER.htest->adc->chAdc.s` (`ADC_ParamsTypeDef`).