Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

Compare commits

base: Andrey:b0c9cb058c8f52f3d35cbce9667c3e790fddfb5a
Branches Tags
Andrey:main
..
compare: Andrey:3f33a4110b6ae36c832b555ff81ec1312defad3e
Branches Tags
Andrey:main

No commits in common. "b0c9cb058c8f52f3d35cbce9667c3e790fddfb5a" and "3f33a4110b6ae36c832b555ff81ec1312defad3e" have entirely different histories.
b0c9cb058c ... 3f33a4110b

12 changed files with 186 additions and 234 deletions
Show Stats Expand all files Collapse all files

10
diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h
View File

@ -47,9 +47,8 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
*/ */
typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
{ {
uint16_t TimeForForward; uint16_t TimeForPositiveDC;
uint16_t TimeBeforeTest; uint16_t TimeBeforeTest;
uint16_t TimeDeadtime;
uint16_t TimeBeforePeak; uint16_t TimeBeforePeak;
uint16_t TimeBeforeDisconnect; uint16_t TimeBeforeDisconnect;
@ -67,7 +66,7 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
// DEFINES FOR HOLDING REGISTERS ARRAYS // DEFINES FOR HOLDING REGISTERS ARRAYS
#define R_SETTINGS_ADDR 0 #define R_SETTINGS_ADDR 0
#define R_SETTINGS_QNT 10 #define R_SETTINGS_QNT 4
// DEFINES FOR REGISTERS LOCAL ADDRESSES // DEFINES FOR REGISTERS LOCAL ADDRESSES
@ -101,14 +100,13 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef
{ {
/* reg 1 */ /* reg 1 */
unsigned ForwardTest:1; unsigned PositiveTest:1;
unsigned ReverseTest:1; unsigned NegativeTest:1;
unsigned StartTest:1; unsigned StartTest:1;
unsigned reserved:13; unsigned reserved:13;
/* reg 2 */ /* reg 2 */
unsigned msTimeBeforeTest_enable:1; unsigned msTimeBeforeTest_enable:1;
unsigned msTimeDeadtime_enable:1;
unsigned msTimeBeforePeak_enable:1; unsigned msTimeBeforePeak_enable:1;
unsigned msTimeBeforeDisconnect_enable:1; unsigned msTimeBeforeDisconnect_enable:1;
}MB_DataCoilsTypeDef; }MB_DataCoilsTypeDef;

2
diode_tester/Core/MyLibs/mylibs_defs.h
View File

@ -56,7 +56,7 @@ extern void Error_Handler(void);
#ifdef FREERTOS_DELAY #ifdef FREERTOS_DELAY
#define msDelay(_ms_) osDelay(_ms_) #define msDelay(_ms_) osDelay(_ms_)
#else #else
#define msDelay(_ms_) if(_ms_ != 0) HAL_Delay(_ms_-1) #define msDelay(_ms_) HAL_Delay(_ms_)
#endif #endif
/** DELAYS_DEFINES /** DELAYS_DEFINES

4
diode_tester/Core/Src/tim.c
View File

@ -82,9 +82,9 @@ void MX_TIM3_Init(void)
/* USER CODE END TIM3_Init 1 */ /* USER CODE END TIM3_Init 1 */
htim3.Instance = TIM3; htim3.Instance = TIM3;
htim3.Init.Prescaler = 72-1; htim3.Init.Prescaler = 0;
htim3.Init.CounterMode = TIM_COUNTERMODE_UP; htim3.Init.CounterMode = TIM_COUNTERMODE_UP;
htim3.Init.Period = 65535; htim3.Init.Period = 8999;
htim3.Init.ClockDivision = TIM_CLOCKDIVISION_DIV1; htim3.Init.ClockDivision = TIM_CLOCKDIVISION_DIV1;
htim3.Init.AutoReloadPreload = TIM_AUTORELOAD_PRELOAD_DISABLE; htim3.Init.AutoReloadPreload = TIM_AUTORELOAD_PRELOAD_DISABLE;
if (HAL_TIM_Base_Init(&htim3) != HAL_OK) if (HAL_TIM_Base_Init(&htim3) != HAL_OK)

52
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@ -26,15 +26,15 @@
#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 2000 #define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 2000
/** /**
* @brief Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ * @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY * @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/ */
#define DEF_DEADTIME 500 #define DEF_DEADTIME 500
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию #define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/** /**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ * @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY * @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/ */
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500 #define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию #define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
@ -43,19 +43,19 @@
* @brief Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ * @brief Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП. * @details Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП.
* *
* Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY * Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* @note Но если миллисекундная, то скорее всего скачок не попадет в буфер АЦП. * @note Но если миллисекундная, то скорее всего скачок не попадет в буфер АЦП.
* Поэтому желательно только микросекундная (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0) * Поэтому желательно только тики for() (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
*/ */
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK 5 #define DEF_TIME_BEFORE_PEAK 5
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK #define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK(0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
/** /**
* @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ * @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY * @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
*/ */
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 2000 #define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 2000
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT #define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT (0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
/** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG /** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG
* @} * @}
@ -78,8 +78,8 @@
#define LED1_Pin GPIO_PIN_13 ///< Пин светодиода (при перенастройке надо также перенастроить через cube) #define LED1_Pin GPIO_PIN_13 ///< Пин светодиода (при перенастройке надо также перенастроить через cube)
/* Периоды моргания светодиода */ /* Периоды моргания светодиода */
#define LED_FORWARD_DIODE_PERIOD 250 ///< Моргание для индикации подключенного положительного напряжения #define LED_POSITIVE_DIODE_PERIOD 250 ///< Моргание для индикации подключенного положительного напряжения
#define LED_REVERSE_DIODE_PERIOD 25 ///< Моргание для индикации подключенного отрицательного напряжения #define LED_NEGATIVE_DIODE_PERIOD 25 ///< Моргание для индикации подключенного отрицательного напряжения
#define LED_BLINK_AS_ON 5 ///< Моргание незаметное для глаза (светодиод просто включен) #define LED_BLINK_AS_ON 5 ///< Моргание незаметное для глаза (светодиод просто включен)
@ -100,32 +100,32 @@
*/ */
/** /**
* @addtogroup TESTER_PHASE_SW_CONFIG Configs for switches for phases * @addtogroup TESTER_POWER_SW_CONFIG Configs for switches for power
* @ingroup TESTER_CONFIGS * @ingroup TESTER_CONFIGS
* @brief Конфигурации для ключей фаз * @brief Конфигурации для ключей питания
@{ @{
*/ */
//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< По этому дефайну для переключения пинов будут использоваться HAL_GPIO функции #define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< Использовать для переключения пинов HAL функции
//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс) #define ALL_SW_USE_SAME_PORT ///< Дефайн указывающий что все пины будут иметь один порт (для ускорения переключения)
/* Состояния ключей для подключения и откючения питания */ /* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
#define PHASE_CONNECT 1 ///< Ключ замкнут подключено в данном состоянии пина #define POWER_CONNECT 1 ///< Питание подключено в данном состоянии пина
#define PHASE_DISCONNECT 0 ///< Ключ разомкнут отключено в данном состоянии пина #define POWER_DISCONNECT 0 ///< Питание отключено в данном состоянии пина
/* Ключи для прямого включения диода */ /* Ключи для подключения положительного питания к диоду */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */ /* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_PHASE_FORWARD_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для прямого включения диода #define SWITCH_PHASE_A_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для прямого включения диода #define SWITCH_PHASE_A_HI_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для прямого включения диода #define SWITCH_PHASE_A_LO_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для напряжения положительного источника ппитания
/* Ключи для обратного включения диода */ /* Ключи для подключения отрицательного питания к диоду */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */ /* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_PHASE_REVERSE_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для обратного включения диода #define SWITCH_PHASE_B_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода #define SWITCH_PHASE_B_HI_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода #define SWITCH_PHASE_B_LO_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для напряжения отрицательного источника ппитания
/** TESTER_PHASE_SW_CONFIG /** TESTER_POWER_SW_CONFIG
* @} * @}
*/ */

201
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
View File

@ -19,38 +19,38 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
/** /**
* @brief Тест диодов: подключение прямого напряжения * @brief Тест диодов: подключение прямого напряжения
*/ */
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest) void TESTER_TestDiode_PositivePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{ {
/* Задержка, перед началом работы */ /* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim); TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_Positive(&htest->leds->LED1);
/* Включение континиус АЦП */ /* Включение континиус АЦП */
HAL_ADC_Start(htest->adc->hadc); HAL_ADC_Start(htest->adc->hadc);
/* Прямое включение диода */ /* Подкючение питания к диоду */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseForward); TESTER_Connect_Power(&htest->DCPosSw);
/* Прямое включение на определенное время */
/* Подключение питания на определенное время */
uint32_t tickstart = HAL_GetTick(); uint32_t tickstart = HAL_GetTick();
HAL_StatusTypeDef res; HAL_StatusTypeDef res;
while(1) while(1)
{ {
/* Считывание АЦП пока таймаут истечет */ /* Считывание АЦП пока таймаут истечет */
res = ADC_ReadContinuous(htest->adc, htest->continuous_buff_size, tickstart, htest->SwTimings.msticks_for_forward); res = ADC_ReadContinuous(htest->adc, htest->continuous_buff_size, tickstart, htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc);
if(res != HAL_OK) if(res != HAL_OK)
break; break;
} }
/* Отключение питания от диода */ /* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward); TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCPosSw);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
/* Выключение континиус АЦП */ /* Выключение континиус АЦП */
HAL_ADC_Stop(htest->adc->hadc); HAL_ADC_Stop(htest->adc->hadc);
TESTER_LED_WaitForAction(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_End(&htest->leds->LED1);
htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current; htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
} }
@ -58,32 +58,31 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
/** /**
* @brief Тест диодов: подключение обратного напряжения * @brief Тест диодов: подключение обратного напряжения
*/ */
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest) void TESTER_TestDiode_NegativePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{ {
/* Задержка, перед началом работы */ /* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim); TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_Negative(&htest->leds->LED1);
/* Включение АЦП */ /* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(htest->adc); ADC_DMA_StartRead(htest->adc);
/* Задержка, перед предполагаемым скачком */ /* Задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim); TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak);
/* Обратное включение диода */ /* Подкючение питания к диоду */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseReverse); TESTER_Connect_Power(&htest->DCNegSw);
/* Обратное включение на определенное время */ /* Подключение питания на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim); TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
/* Отключение питания от диода */ /* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse); TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCNegSw);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */ /* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS); ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
TESTER_LED_WaitForAction(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_End(&htest->leds->LED1);
htest->DiodePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current; htest->DiodePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
} }
@ -92,145 +91,117 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
/** /**
* @brief Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения * @brief Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения
*/ */
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest) void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{ {
/* Задержка, перед началом работы */ /* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim); TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_Positive(&htest->leds->LED1);
/* Прямое включение диода */ /* Подкючение питания к диоду */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseForward); TESTER_Connect_Power(&htest->DCPosSw);
/* Прямое включение на определенное время */ /* Подкючение положительного питания к диоду */
msDelay(htest->SwTimings.msticks_for_forward); msDelay(htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc);
htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current; htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_Negative(&htest->leds->LED1);
/* Переход из прямого включения в обратное */
TESTER_Reconnect_TwoPhases(&htest->SwPhaseForward, &htest->SwPhaseReverse, &htest->SwTimings.ticks_deadtime);
/* Обратное включение на определенное время */ /* Включение АЦП */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim); ADC_DMA_StartRead(htest->adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak);
/* Отключение питания от диода */ /* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse); TESTER_Reconnect_Power(&htest->DCPosSw, &htest->DCNegSw);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Подключение отрицательного питания на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCNegSw);
/* Обработка DMA */ /* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS); ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
TESTER_LED_WaitForAction(&htest->leds->LED1); TESTER_LED_TestingDiode_End(&htest->leds->LED1);
htest->DiodePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current; htest->DiodePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
} }
/** /**
* @brief Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef * @brief Подключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
*/ */
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw) void TESTER_Connect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw)
{ {
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h #ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT); HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin, POWER_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_CONNECT == 1) #if (POWER_CONNECT == 1)
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin; DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 1 #else //POWER_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16; DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT == 1 #endif //POWER_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
} }
/** /**
* @brief Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef * @brief Отключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
*/ */
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw) void TESTER_Disconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw)
{ {
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT); HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin, POWER_DISCONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (PHASE_DISCONNECT == 0) #if (POWER_DISCONNECT == 0)
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16; DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin) << 16;
#else //PHASE_CONNECT == 1 #else //POWER_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin; DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin;
#endif //PHASE_CONNECT == 1 #endif //POWER_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
} }
/** /**
* @brief Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef * @brief Переключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
*/ */
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime) void TESTER_Reconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCPosSw, TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCNegSw)
{ {
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseA->SW_Port, SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT); HAL_GPIO_WritePin(DCPosSw->SW_Port, DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin, POWER_DISCONNECT);
HAL_GPIO_WritePin(DCNegSw->SW_Port, DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin, POWER_CONNECT);
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseB->SW_Port, SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#ifdef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME #ifdef ALL_SW_USE_SAME_PORT
/* Включение АЦП */ #if (POWER_CONNECT == 1) && (POWER_DISCONNECT == 0)
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc); DCPosSw->SW_Port->BSRR = ((DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) | ((DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin) << 16));
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */ #elif (POWER_CONNECT == 1) && (POWER_DISCONNECT == 0)
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim); DCPosSw->SW_Port->BSRR = (((DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) << 16)| (DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin));
#endif //POWER_CONNECT && POWER_DISCONNECT
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0) #else //ALL_SW_USE_SAME_PORT
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = ((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) | ((SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16)); #if (POWER_DISCONNECT == 0)
#elif (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0) DCPosSw->SW_Port->BSRR = (DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin) << 16;
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16)| (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin)); #else //POWER_DISCONNECT == 1
#endif //PHASE_CONNECT && PHASE_DISCONNECT DCPosSw->SW_Port->BSRR = DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin;
#endif //POWER_DISCONNECT
#else //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_DISCONNECT == 1
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_DISCONNECT
/* Ожидается задержка дедтайм */ #if (POWER_CONNECT == 1)
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim); DCNegSw->SW_Port->BSRR = DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin;
#else //POWER_CONNECT == 0
/* Включение АЦП */ DCNegSw->SW_Port->BSRR = (DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) << 16;
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc); #endif //POWER_CONNECT
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */ #endif //ALL_SW_USE_SAME_PORT
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1)
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 0
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = (SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS #endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
} }
/** /**
* @brief Формирование задержки (в микро или миллисекундная) * @brief Формирование задержки (в тиках или миллисекундная)
*/ */
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay, TIM_HandleTypeDef *htim) void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay)
{ {
/* если миллисекундная задержка выключена */ /* Задержка, перед подключением питания */
if(tickdelay->msdelay == 0) if(tickdelay->msdelay == 0) // если миллисекундная задержка выключена
{ {
htim->Instance->CNT = 1; /* Задержка, в тиках */
uint32_t tickstart = HAL_GetTick(); for(int i = 0; i < tickdelay->ticks; i++);
/* Задержка, в мкс */
while(htim->Instance->CNT < tickdelay->ticks)
{
/* Если прошло уже больше секунды, а микросекундная задержка не закончилась - возврат */
if(HAL_GetTick() - tickstart > 1000)
return;
}
} }
/* если миллисекундная задержка включена */ else // если миллисекундная задержка включена
else
{ {
/* Задержка, в миллисекундах */ /* Задержка, в миллисекундах */
msDelay(tickdelay->ticks); msDelay(tickdelay->ticks);

50
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
View File

@ -14,21 +14,16 @@
#include "tester_adc_func.h" #include "tester_adc_func.h"
#include "tester_interface_func.h" #include "tester_interface_func.h"
/**
* @brief Хендл микросекундного таймера
*/
#define hmcstim htim3
extern TIM_HandleTypeDef htim3;
/** /**
* @brief Структура для пинов, которые отвечают за ключи, которые подключают фазы * @brief Структура для пинов, которые отвечают за ключи, которые подключают питание
*/ */
typedef struct typedef struct
{ {
GPIO_TypeDef *SW_Port; ///< Порт первого ключа для фазы GPIO_TypeDef *SW_Port; ///< Порт первого ключа для питания
uint32_t SwHI_Pin; ///< Пин первого ключа для фазы uint32_t SwGND_Pin; ///< Пин первого ключа для питания
uint32_t SwLO_Pin; ///< Пин второго ключа для фазы uint32_t SwVDD_Pin; ///< Пин второго ключа для питания
}TESTER_PhaseSwitchTypeDef; }TESTER_PowerSwitchTypeDef;
/** /**
@ -45,11 +40,10 @@ typedef struct
*/ */
typedef struct typedef struct
{ {
uint32_t msticks_for_forward; ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_Forward uint32_t msticks_for_positive_dc; ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_PositivePower
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или мкс) TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_deadtime; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс) TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_go_to_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_expected_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс) TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением питания (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением фаз (мс или мкс)
}TESTER_SwitchTimingsTypeDef; }TESTER_SwitchTimingsTypeDef;
/** /**
@ -61,8 +55,8 @@ typedef struct
TESTER_SwitchTimingsTypeDef SwTimings; ///< Тайминги для ключей TESTER_SwitchTimingsTypeDef SwTimings; ///< Тайминги для ключей
TESTER_PhaseSwitchTypeDef SwPhaseForward; ///< Пины ключей фаз для прямого включения TESTER_PowerSwitchTypeDef DCPosSw; ///< Пины ключей для положительного источника
TESTER_PhaseSwitchTypeDef SwPhaseReverse; ///< Пины ключей фаз для обратного включения TESTER_PowerSwitchTypeDef DCNegSw; ///< Пины ключей для отрицательного источника
uint32_t continuous_buff_size; uint32_t continuous_buff_size;
@ -79,19 +73,19 @@ extern TESTER_TestHandleTypeDef hTestDiode;
void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds); void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds);
/* Тест диодов: подключение прямого напряжения */ /* Тест диодов: подключение прямого напряжения */
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest); void TESTER_TestDiode_PositivePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тест диодов: подключение обратного напряжения */ /* Тест диодов: подключение обратного напряжения */
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest); void TESTER_TestDiode_NegativePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения */ /* Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения */
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest); void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */ /* Подключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw); void TESTER_Connect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw);
/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */ /* Отключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw); void TESTER_Disconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw);
/* Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */ /* Переключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime); void TESTER_Reconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCPosSw, TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCNegSw);
/* Формирование задержки (в микро или миллисекундная) */ /* Формирование задержки перед подключением питания (в тиках или миллисекундная) */
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay, TIM_HandleTypeDef *htim); void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay);
#endif //_TESTER_FUNC_H_ #endif //_TESTER_FUNC_H_

12
diode_tester/Core/Tester_main/tester_interface_func.c
View File

@ -12,21 +12,21 @@ void TESTER_InterfaceInit(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart, TESTER_LEDsTypeDef
/** /**
* @brief Включить индикацию прямого подключения диода * @brief Включить индикацию прямого подключения диода
*/ */
void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led) void TESTER_LED_TestingDiode_Positive(TESTER_LEDTypeDef *led)
{ {
led->period = LED_FORWARD_DIODE_PERIOD; led->period = LED_POSITIVE_DIODE_PERIOD;
} }
/** /**
* @brief Включить индикацию обратного подключения диода * @brief Включить индикацию обратного подключения диода
*/ */
void TESTER_LED_TestingDiodeReverse(TESTER_LEDTypeDef *led) void TESTER_LED_TestingDiode_Negative(TESTER_LEDTypeDef *led)
{ {
led->period = LED_REVERSE_DIODE_PERIOD; led->period = LED_NEGATIVE_DIODE_PERIOD;
} }
/** /**
* @brief Выключить индикацию ожидания комманды * @brief Выключить индикацию активного теста диодов
*/ */
void TESTER_LED_WaitForAction(TESTER_LEDTypeDef *led) void TESTER_LED_TestingDiode_End(TESTER_LEDTypeDef *led)
{ {
led->period = LED_BLINK_AS_ON; led->period = LED_BLINK_AS_ON;
} }

6
diode_tester/Core/Tester_main/tester_interface_func.h
View File

@ -48,11 +48,11 @@ void TESTER_InterfaceInit(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart, TESTER_LEDsTypeDef
/* Включить индикацию прямого подключения диода */ /* Включить индикацию прямого подключения диода */
void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led); void TESTER_LED_TestingDiode_Positive(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Включить индикацию обратного подключения диода */ /* Включить индикацию обратного подключения диода */
void TESTER_LED_TestingDiodeReverse(TESTER_LEDTypeDef *led); void TESTER_LED_TestingDiode_Negative(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Выключить индикацию активного теста диодов */ /* Выключить индикацию активного теста диодов */
void TESTER_LED_WaitForAction(TESTER_LEDTypeDef *led); void TESTER_LED_TestingDiode_End(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Считать состоянии кнопки запуска */ /* Считать состоянии кнопки запуска */
uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart); uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart);

64
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@ -36,7 +36,6 @@ void TESTER_pre_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
RS_Receive_IT(tester->hmodbus, &MODBUS_MSG); RS_Receive_IT(tester->hmodbus, &MODBUS_MSG);
tester->leds.LED1.period = LED_BLINK_AS_ON; tester->leds.LED1.period = LED_BLINK_AS_ON;
tester->f.flag_init_done = 1; tester->f.flag_init_done = 1;
HAL_TIM_Base_Start(&hmcstim);
} }
@ -50,46 +49,46 @@ void TESTER_main_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
msDelay(tester->delay); msDelay(tester->delay);
/* ТЕСТ В ОБРАТНОМ ВКЛЮЧЕНИИ */ /* ТЕСТ В ОБРАТНОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
if(tester->func.test_diode_reverse) if(tester->func.test_diode_neg)
{ {
tester->f.flag_test_active = 1; tester->f.flag_test_active = 1;
TESTER_TestDiode_Reverse(tester->htest); TESTER_TestDiode_NegativePower(tester->htest);
/* Запись данных в modbus */ /* Запись данных в modbus */
tester->mbdata->InRegs.PeakVoltage = tester->htest->DiodePeakVolt*1000; tester->mbdata->InRegs.PeakVoltage = tester->htest->DiodePeakVolt*1000;
if(tester->func.disable_reset_call == 0) if(tester->func.disable_reset_call == 0)
tester->func.test_diode_reverse = 0; tester->func.test_diode_neg = 0;
tester->f.flag_test_active = 0; tester->f.flag_test_active = 0;
} }
/* ТЕСТ В ПРЯМОМ ВКЛЮЧЕНИИ */ /* ТЕСТ В ПРЯМОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
if(tester->func.test_diode_forward) if(tester->func.test_diode_pos)
{ {
tester->f.flag_test_active = 1; tester->f.flag_test_active = 1;
TESTER_TestDiode_Forward(tester->htest); TESTER_TestDiode_PositivePower(tester->htest);
/* Запись данных в modbus */ /* Запись данных в modbus */
tester->mbdata->InRegs.ForwardVoltage = tester->htest->DiodeForwardVolt*1000; tester->mbdata->InRegs.ForwardVoltage = tester->htest->DiodeForwardVolt*1000;
if(tester->func.disable_reset_call == 0) if(tester->func.disable_reset_call == 0)
tester->func.test_diode_forward = 0; tester->func.test_diode_pos = 0;
tester->f.flag_test_active = 0; tester->f.flag_test_active = 0;
} }
/* ТЕСТ ПЕРЕХОДА ИЗ ПРЯМОГО В ОБРАТНОЕ ВКЛЮЧЕНИЯ*/ /* ТЕСТ ПЕРЕХОДА ИЗ ПРЯМОГО В ОБРАТНОЕ ВКЛЮЧЕНИЯ*/
if(tester->func.test_diode_switch_connection) if(tester->func.test_diode_posneg)
{ {
tester->f.flag_test_active = 1; tester->f.flag_test_active = 1;
TESTER_TestDiode_SwitchConnection(tester->htest); TESTER_TestDiode_PosNegPower(tester->htest);
/* Запись данных в modbus */ /* Запись данных в modbus */
tester->mbdata->InRegs.PeakVoltage = tester->htest->DiodePeakVolt*1000; tester->mbdata->InRegs.PeakVoltage = tester->htest->DiodePeakVolt*1000;
tester->mbdata->InRegs.ForwardVoltage = tester->htest->DiodeForwardVolt*1000; tester->mbdata->InRegs.ForwardVoltage = tester->htest->DiodeForwardVolt*1000;
if(tester->func.disable_reset_call == 0) if(tester->func.disable_reset_call == 0)
tester->func.test_diode_switch_connection = 0; tester->func.test_diode_posneg = 0;
tester->f.flag_test_active = 0; tester->f.flag_test_active = 0;
} }
@ -118,16 +117,16 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
TESTER_UpdateSettings(tester->htest, tester->mbdata); TESTER_UpdateSettings(tester->htest, tester->mbdata);
switch(tester->mode) switch(tester->mode)
{ {
case TEST_FORWARD: case TEST_POSITIVE:
tester->func.test_diode_forward = 1; tester->func.test_diode_pos = 1;
break; break;
case TEST_REVERSE: case TEST_NEGATIVE:
tester->func.test_diode_reverse = 1; tester->func.test_diode_neg = 1;
break; break;
case TEST_SWITCH_CONNECTION: case TEST_POSNEG:
tester->func.test_diode_switch_connection = 1; tester->func.test_diode_posneg = 1;
break; break;
default: default:
@ -147,14 +146,12 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
void TESTER_UpdateSettings(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, MB_DataStructureTypeDef *mbdata) void TESTER_UpdateSettings(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, MB_DataStructureTypeDef *mbdata)
{ {
htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect; htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect;
htest->SwTimings.ticks_deadtime.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeDeadtime; htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak;
htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak;
htest->SwTimings.ticks_before_test.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeTest; htest->SwTimings.ticks_before_test.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeTest;
htest->SwTimings.msticks_for_forward = mbdata->HoldRegs.TimeForForward; htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc = mbdata->HoldRegs.TimeForPositiveDC;
htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable; htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable;
htest->SwTimings.ticks_deadtime.msdelay = mbdata->Coils.msTimeDeadtime_enable; htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_test.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeTest_enable; htest->SwTimings.ticks_before_test.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeTest_enable;
TESTER_ADC_UpdateSettings(htest->adc, mbdata); TESTER_ADC_UpdateSettings(htest->adc, mbdata);
@ -166,18 +163,18 @@ void TESTER_UpdateSettings(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, MB_DataStructureType
*/ */
void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester) void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
{ {
tester->mbdata->Coils.ForwardTest = 1; tester->mbdata->Coils.PositiveTest = 1;
tester->mbdata->Coils.ReverseTest = 1; tester->mbdata->Coils.NegativeTest = 1;
/* Настройка пинов для прямого включения */ /* Настройка пинов для подключения отрицательного источника */
tester->htest->SwPhaseReverse.SW_Port = SWITCH_PHASE_REVERSE_Port; tester->htest->DCNegSw.SW_Port = SWITCH_PHASE_B_Port;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin; tester->htest->DCNegSw.SwGND_Pin = SWITCH_PHASE_B_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin; tester->htest->DCNegSw.SwVDD_Pin = SWITCH_PHASE_B_LO_Pin;
/* Настройка пинов для обратного включения */ /* Настройка пинов для подключения положительного источника */
tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port = SWITCH_PHASE_FORWARD_Port; tester->htest->DCPosSw.SW_Port = SWITCH_PHASE_A_Port;
tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin; tester->htest->DCPosSw.SwGND_Pin = SWITCH_PHASE_A_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin; tester->htest->DCPosSw.SwVDD_Pin = SWITCH_PHASE_A_LO_Pin;
/* Настройка пинов для кнопки старта */ /* Настройка пинов для кнопки старта */
@ -192,14 +189,11 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
/* Настройка таймингов по умолчанию для тестирования */ /* Настройка таймингов по умолчанию для тестирования */
tester->mbdata->HoldRegs.TimeForForward = DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE; tester->mbdata->HoldRegs.TimeForPositiveDC = DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT; tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT;
tester->mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY; tester->mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeDeadtime = DEF_DEADTIME;
tester->mbdata->Coils.msTimeDeadtime_enable = DEF_DEADTIME_MS_DELAY;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak = DEF_TIME_BEFORE_PEAK; tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak = DEF_TIME_BEFORE_PEAK;
tester->mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable = DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY; tester->mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable = DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY;

12
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.h
View File

@ -19,9 +19,9 @@
*/ */
typedef struct typedef struct
{ {
unsigned test_diode_reverse:1; unsigned test_diode_neg:1;
unsigned test_diode_switch_connection:1; unsigned test_diode_posneg:1;
unsigned test_diode_forward:1; unsigned test_diode_pos:1;
unsigned disable_reset_call:1; unsigned disable_reset_call:1;
}function_calls; }function_calls;
@ -38,9 +38,9 @@ typedef struct
typedef enum typedef enum
{ {
TEST_DISABLE = 0, TEST_DISABLE = 0,
TEST_FORWARD = 1, TEST_POSITIVE = 1,
TEST_REVERSE = 2, TEST_NEGATIVE = 2,
TEST_SWITCH_CONNECTION = 3 TEST_POSNEG = 3
}TESTER_TestModeTypeDef; }TESTER_TestModeTypeDef;

5
diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
View File

@ -207,11 +207,6 @@
<WinNumber>2</WinNumber> <WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>val_sum,0x0A</ItemText> <ItemText>val_sum,0x0A</ItemText>
</Ww> </Ww>
<Ww>
<count>5</count>
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
</Ww>
</WatchWindow2> </WatchWindow2>
<Tracepoint> <Tracepoint>
<THDelay>0</THDelay> <THDelay>0</THDelay>

2
diode_tester/diode_tester.ioc
View File

@ -158,7 +158,7 @@ RCC.VCOOutput2Freq_Value=8000000
SH.ADCx_IN0.0=ADC1_IN0,IN0 SH.ADCx_IN0.0=ADC1_IN0,IN0
SH.ADCx_IN0.ConfNb=1 SH.ADCx_IN0.ConfNb=1
TIM3.IPParameters=Period,Prescaler,TIM_MasterOutputTrigger TIM3.IPParameters=Period,Prescaler,TIM_MasterOutputTrigger
TIM3.Period=65535 TIM3.Period=10000
TIM3.Prescaler=72-1 TIM3.Prescaler=72-1
TIM3.TIM_MasterOutputTrigger=TIM_TRGO_UPDATE TIM3.TIM_MasterOutputTrigger=TIM_TRGO_UPDATE
USART1.IPParameters=VirtualMode USART1.IPParameters=VirtualMode