Merge branch 'main' of https://git.arktika.cyou/Andrey/Diod_Test
This commit is contained in:
commit
be64bbf5d2
117
README.md
117
README.md
@ -1,73 +1,79 @@
|
||||
# Diod_Test
|
||||
|
||||
## Управление тестером
|
||||
Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 StartTest.
|
||||
Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 `StartTest`.
|
||||
Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах:
|
||||
- №0 PositiveTest
|
||||
- №1 NegativeTest
|
||||
Если включены оба, то будет тест перехода от прямого подлключения к обратному.
|
||||
- 0: `ForwardTest` - тест напряжения при прямом включении
|
||||
- 1: `ReverseTest` - тест скачка напряжения при обратном включении
|
||||
|
||||
Если включены оба, то будет тест скачка напряжения при переходе от прямого подлключения к обратному.
|
||||
|
||||
## Настройка таймингов
|
||||
Тайминги выставляются в регистрах модбас №0-4:
|
||||
- TimeForPositiveDC - миллисекундная задержка для положительного напряжения (только миллисекунды_
|
||||
- TimeBeforeTest - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или тики for())
|
||||
- TimeBeforePeak - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или тики for())
|
||||
- TimeBeforeDisconnect - задержка перед выключением питания (миллисекундная или тики for())
|
||||
- 0: `TimeForForward` - миллисекундная задержка для прямого включения (только миллисекунды)
|
||||
- 1: `TimeBeforeTest` - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или микросекундная)
|
||||
- 2: `TimeDeadtime` - задержка при переключении с прямого включения в обратное (миллисекундная или микросекундная)
|
||||
- 3: `TimeBeforePeak` - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или микросекундная)
|
||||
- 4: `TimeBeforeDisconnect` - задержка перед выключением питания (миллисекундная или микросекундная)
|
||||
|
||||
В коилах модбас №16-18, можно выставить флаги - использовать миллисекундную или пустой цикл for() для соответствующей задержки:
|
||||
- msTimeBeforeTest_enable
|
||||
- msTimeBeforePeak_enable
|
||||
- msTimeBeforeDisconnect_enable
|
||||
В коилах модбас №16-19, можно выставить флаги - использовать миллисекундную задержку вместо микросекундной для соответствующего тайминга:
|
||||
- 16: `msTimeBeforeTest_enable`
|
||||
- 17: `msTimeDeadtime_enable`
|
||||
- 18: `msTimeBeforePeak_enable`
|
||||
- 19: `msTimeBeforeDisconnect_enable`
|
||||
|
||||
## Настройка АЦП
|
||||
Настройки АЦП выставляются в регистрах модбас №5-9:
|
||||
- Adc_PulseWidth - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
|
||||
- Adc_PulseSign - полярность импульса
|
||||
- Adc_CalibrValue - калибровочное значение ацп
|
||||
- Adc_ZeroValue - нулевое значение ацп
|
||||
- Adc_U_Calibr - калибровочное напряжение ацп
|
||||
- 5: `Adc_PulseWidth` - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
|
||||
- 6: `Adc_PulseSign` - полярность импульса
|
||||
- 7: `Adc_CalibrValue` - калибровочное значение ацп
|
||||
- 8: `Adc_ZeroValue` - нулевое значение ацп
|
||||
- 9: `Adc_U_Calibr` - калибровочное напряжение ацп
|
||||
|
||||
Из этого рассчитывается шаг АЦП: Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)
|
||||
Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)`
|
||||
|
||||
|
||||
# Тестирование
|
||||
## Тест в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower)
|
||||
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
|
||||
## Тест в прямом подключении (`TESTER_TestDiode_Forward`)
|
||||
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
|
||||
- включается АЦП в континуес режиме
|
||||
- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc. и все это время считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего.
|
||||
- диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`.
|
||||
- считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего. и так по кругу пока диод подключен
|
||||
- после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП
|
||||
|
||||
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода
|
||||
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt`.
|
||||
|
||||
## Тест в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower)
|
||||
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
|
||||
## Тест в обратном подключении (`TESTER_TestDiode_Reverse`)
|
||||
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
|
||||
- включается АЦП в дма режиме
|
||||
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
|
||||
- подключается отрицательное напряжение на заданное время ticks_before_disconnect, и отключается
|
||||
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak`
|
||||
- диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`, и отключается
|
||||
- после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе
|
||||
|
||||
По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода
|
||||
По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода `htest->DiodeReversePeakVolt`.
|
||||
|
||||
## Тест перехода из прямого подключении в обратное (TESTER_TestDiode_PosNegPower)
|
||||
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
|
||||
- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc
|
||||
## Тест перехода из прямого подключении в обратное (`TESTER_TestDiode_SwitchConnection`)
|
||||
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
|
||||
- диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`
|
||||
- после истечения задержки сохраняется прямое напражение на диоде
|
||||
- диод отключается от питания и выжидается мертвое время `ticks_deadtime`
|
||||
- включается АЦП в дма режиме
|
||||
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
|
||||
- переключается положительное напряжение на отрицательное на заданное время ticks_before_disconnect
|
||||
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak`
|
||||
- диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`
|
||||
- дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе
|
||||
|
||||
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода и скачок при обратном
|
||||
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt` и скачок при обратном `htest->DiodeReversePeakVolt`.
|
||||
|
||||
|
||||
|
||||
# Внутренняя настройка
|
||||
В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (TESTER_Set_Default_Settings)
|
||||
После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (TESTER_UpdateSettings). Она вызывается перед каждым тестом.
|
||||
В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (`TESTER_Set_Default_Settings`)
|
||||
После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (`TESTER_UpdateSettings`). Она вызывается перед каждым тестом.
|
||||
## tester_config.h
|
||||
Содержит дефолтные настройки для таймингов (TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG):
|
||||
- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной задержки.
|
||||
Содержит дефолтные настройки для таймингов (`TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG`):
|
||||
- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной разных задержек.
|
||||
|
||||
для светодиода и кнопки (TESTER_INTERFACE_CONFIG):
|
||||
для светодиода и кнопки (`TESTER_INTERFACE_CONFIG`):
|
||||
- состояния пина для включения и выключения светодиода
|
||||
- порт и пин светодиода
|
||||
- частоты моргания для разных режимов работы
|
||||
@ -75,17 +81,26 @@
|
||||
- порт и пин кнопки
|
||||
- задержка для выжидания дребезга
|
||||
|
||||
для управления ключами (TESTER_ADC_CONFIG):
|
||||
- USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
|
||||
- ALL_SW_USE_SAME_PORT - используется один пор для всех ключей. Если не используется HAL, то позволяет переключить ключи на обоих источникам синхронно
|
||||
- состояния пина для подключения и отключения питания
|
||||
- порт и пины для ключей положительного питания (порт общий для двух ключей)
|
||||
- порт и пины для ключей положительного питания
|
||||
для управления ключами (`TESTER_PHASE_SW_CONFIG`):
|
||||
- `USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS` - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
|
||||
- `RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME` - отключить дедтайм при переключении. Если отключить еще и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс). Хз надо ли такое, но возможность есть
|
||||
- порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей)
|
||||
- порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей)
|
||||
|
||||
для АЦП (TESTER_ADC_CONFIG):
|
||||
- размер dma буффера (ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE)
|
||||
- калибровочное напряжение АЦП (ADC_U_CALIBR)
|
||||
- значение АЦП при калибровочном напряжении (ADC_VALUE_CALIBR)
|
||||
- значение АЦП при нулевом напряжении (ADC_VALUE_ZERO)
|
||||
- таймаут на чтение АЦП (ADC_READ_TIMEOUT_MS)
|
||||
- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH)
|
||||
для АЦП (`TESTER_ADC_CONFIG`):
|
||||
- размер dma буффера (`ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE`)
|
||||
- калибровочное напряжение АЦП (`ADC_U_CALIBR`)
|
||||
- значение АЦП при калибровочном напряжении (`ADC_VALUE_CALIBR`)
|
||||
- значение АЦП при нулевом напряжении (`ADC_VALUE_ZERO`)
|
||||
- таймаут на чтение АЦП (`ADC_READ_TIMEOUT_MS`)
|
||||
- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (`TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH`)
|
||||
Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)`
|
||||
|
||||
## Структуры для настроек
|
||||
Настройки для таймингов записываются в структуру `SwTimings`, которая находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`.
|
||||
|
||||
Настройки светодиода и кнопки записываются в структуры `leds.LED1` и `SwStart`. Они находятся в структуре проекта `TESTER`
|
||||
|
||||
Настройки для портов и пинов ключей записываются в структуры `SwPhaseForward` и `SwPhaseReverse`, которые находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`.
|
||||
|
||||
Настройки для АЦП записыватся в структуру `TESTER.htest->adc->chAdc.s` (`ADC_ParamsTypeDef`).
|
||||
Loading…
Reference in New Issue
Block a user