diff --git a/diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h b/diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h
index a25468a..9fcb038 100644
--- a/diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h
+++ b/diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h
@@ -48,10 +48,10 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
{
uint16_t TimeForForward;
+ uint16_t TimeForReverse;
uint16_t TimeBeforeTest;
uint16_t TimeDeadtime;
uint16_t TimeBeforePeak;
- uint16_t TimeBeforeDisconnect;
uint16_t Adc_PulseWidth;
uint16_t Adc_PulseSign;
@@ -104,18 +104,19 @@ typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef
unsigned ForwardTest:1;
unsigned ReverseTest:1;
unsigned StartTest:1;
- unsigned PhaseForwardHiTest:1;
- unsigned PhaseForwardLoTest:1;
- unsigned PhaseReverseHiTest:1;
- unsigned PhaseReverseLoTest:1;
+ unsigned KeyForwardHiTest:1;
+ unsigned KeyForwardLoTest:1;
+ unsigned KeyReverseHiTest:1;
+ unsigned KeyReverseLoTest:1;
unsigned reserved:9;
/* reg 2 - settings */
+ unsigned msTimeForForward_enable:1;
+ unsigned msTimeForReverse_enable:1;
unsigned msTimeBeforeTest_enable:1;
unsigned msTimeDeadtime_enable:1;
unsigned msTimeBeforePeak_enable:1;
- unsigned msTimeBeforeDisconnect_enable:1;
unsigned reserved2:11;
}MB_DataCoilsTypeDef;
@@ -124,7 +125,7 @@ typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef
#define C_CONTROL_QNT 7
#define C_SETTINGS_ADDR 16
-#define C_SETTINGS_QNT 3
+#define C_SETTINGS_QNT 5
/** MODBUS_DATA_COILS_DEFINES
* @}
diff --git a/diode_tester/Core/Src/gpio.c b/diode_tester/Core/Src/gpio.c
index fc4bdf5..7033e4f 100644
--- a/diode_tester/Core/Src/gpio.c
+++ b/diode_tester/Core/Src/gpio.c
@@ -67,7 +67,7 @@ void MX_GPIO_Init(void)
/*Configure GPIO pin : PC14 */
GPIO_InitStruct.Pin = GPIO_PIN_14;
GPIO_InitStruct.Mode = GPIO_MODE_INPUT;
- GPIO_InitStruct.Pull = GPIO_PULLDOWN;
+ GPIO_InitStruct.Pull = GPIO_PULLUP;
HAL_GPIO_Init(GPIOC, &GPIO_InitStruct);
/*Configure GPIO pins : PAPin PAPin PAPin PAPin */
diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
index ca99197..66e6753 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
@@ -21,24 +21,31 @@
/**
* @brief Задержка (миллисекундная) для положительного напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
- * @details Пока только миллисекунды, т.к. меньше я пока не реализовал, да и как понимаю не требуется
+ * @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/
-#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 2000
+#define DEF_TIME_FOR_FORWARD 100
+#define DEF_TIME_FOR_FORWARD_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_TIME_FOR_FORWARD по умолчанию
+/**
+ * @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
+ * @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_FOR_REVERSE_MS_DELAY
+ */
+#define DEF_TIME_FOR_REVERSE 200
+#define DEF_TIME_FOR_REVERSE_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_FOR_REVERSE
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/
-#define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500
-#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
+#define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500
+#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
/**
* @brief Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
*/
-#define DEF_DEADTIME 500
-#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
+#define DEF_DEADTIME 0
+#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/**
* @brief Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
@@ -48,15 +55,8 @@
* @note Но если миллисекундная, то скорее всего скачок не попадет в буфер АЦП.
* Поэтому желательно только микросекундная (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
*/
-#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK 5
-#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK
-
-/**
- * @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
- * @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
- */
-#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 2000
-#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT
+#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK 5
+#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK
/** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG
* @}
@@ -86,8 +86,8 @@
/* Дефайны для кнопки */
/* Состояния нажатой и отжатой кнопки */
-#define SW_ON 1 ///< Состояние нажатой кнопки
-#define SW_OFF 0 ///< Состояние отжатой кнопки
+#define SW_ON 0 ///< Состояние нажатой кнопки
+#define SW_OFF 1 ///< Состояние отжатой кнопки
/* Пин кнопки при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_START_Port GPIOC ///< Порт кнокпи старта (при перенастройке надо также перенастроить через cube)
@@ -107,7 +107,7 @@
@{
*/
//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< По этому дефайну для переключения пинов будут использоваться HAL_GPIO функции
-//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (160 нс)
+#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (160 нс)
/* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
#define PHASE_CONNECT 1 ///< Ключ замкнут подключено в данном состоянии пина
@@ -115,16 +115,15 @@
/* Ключи для прямого включения диода */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
-#define SWITCH_PHASE_FORWARD_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для прямого включения диода
-#define SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для прямого включения диода
-#define SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для прямого включения диода
+#define SWITCH_PHASES_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для прямого включения диода
+#define SWITCH_PHASE_A_POS_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для прямого включения диода
+#define SWITCH_PHASE_B_NEG_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для прямого включения диода
/* Ключи для обратного включения диода */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
-#define SWITCH_PHASE_REVERSE_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для обратного включения диода
-#define SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода
-#define SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода
+#define SWITCH_PHASE_A_NEG_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода
+#define SWITCH_PHASE_B_POS_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода
/** TESTER_PHASE_SW_CONFIG
* @}
diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
index 5d4f90f..b8529fd 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
@@ -43,7 +43,7 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
while(1)
{
/* Считывание АЦП пока таймаут истечет */
- res = ADC_ReadContinuous(htest->adc, htest->continuous_buff_size, tickstart, htest->SwTimings.msticks_for_forward);
+ res = ADC_ReadContinuous(htest->adc, htest->continuous_buff_size, tickstart, htest->SwTimings.ticks_for_forward.ticks);
if(res != HAL_OK)
break;
@@ -85,7 +85,7 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
/* Обратное включение на определенное время */
- TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
+ TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_for_reverse, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
@@ -118,7 +118,7 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Прямое включение на определенное время */
- msDelay(htest->SwTimings.msticks_for_forward);
+ TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_for_forward, &hmcstim);
htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1);
@@ -126,7 +126,7 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
TESTER_Reconnect_TwoPhases(&htest->SwPhaseForward, &htest->SwPhaseReverse, &htest->SwTimings.ticks_deadtime);
/* Обратное включение на определенное время */
- TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
+ TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_for_reverse, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
index 5ce0d83..044d12b 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
@@ -71,11 +71,11 @@ typedef struct
*/
typedef struct
{
- uint32_t msticks_for_forward; ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_Forward
+ TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_for_forward; ///< задержка для прямого включения @ref TESTER_TestDiode_Forward
+ TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_for_reverse; ///< задержка для прямого включения @ref TESTER_TestDiode_Reverse
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_deadtime; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_expected_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс)
- TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением фаз (мс или мкс)
}TESTER_SwitchTimingsTypeDef;
/**
diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
index b88c0c3..34a1269 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
@@ -54,13 +54,13 @@ void TESTER_main_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
/* ПОДТЯГИВАНИЕ СОСТОЯНИЯ КЛЮЧЕЙ С МОДБАС */
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin,
- tester->mbdata->Coils.PhaseForwardHiTest);
+ tester->mbdata->Coils.KeyForwardHiTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin,
- tester->mbdata->Coils.PhaseForwardLoTest);
+ tester->mbdata->Coils.KeyForwardLoTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin,
- tester->mbdata->Coils.PhaseReverseHiTest);
+ tester->mbdata->Coils.KeyReverseHiTest);
TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin,
- tester->mbdata->Coils.PhaseReverseLoTest);
+ tester->mbdata->Coils.KeyReverseLoTest);
@@ -162,16 +162,17 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
*/
void TESTER_UpdateSettings(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, MB_DataStructureTypeDef *mbdata)
{
- htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect;
+ htest->SwTimings.ticks_for_reverse.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeForReverse;
htest->SwTimings.ticks_deadtime.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeDeadtime;
htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak;
htest->SwTimings.ticks_before_test.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeTest;
- htest->SwTimings.msticks_for_forward = mbdata->HoldRegs.TimeForForward;
+ htest->SwTimings.ticks_for_forward.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeForForward;
- htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable;
+ htest->SwTimings.ticks_for_reverse.msdelay = mbdata->Coils.msTimeForReverse_enable;
htest->SwTimings.ticks_deadtime.msdelay = mbdata->Coils.msTimeDeadtime_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_test.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeTest_enable;
+ htest->SwTimings.ticks_before_test.msdelay = mbdata->Coils.msTimeForForward_enable;
TESTER_ADC_UpdateSettings(htest->adc, mbdata);
}
@@ -185,15 +186,15 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
tester->mbdata->Coils.ForwardTest = 1;
tester->mbdata->Coils.ReverseTest = 1;
- /* Настройка пинов для прямого включения */
- tester->htest->SwPhaseReverse.SW_Port = SWITCH_PHASE_REVERSE_Port;
- tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin;
- tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin;
-
/* Настройка пинов для обратного включения */
- tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port = SWITCH_PHASE_FORWARD_Port;
- tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin;
- tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin;
+ tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port = SWITCH_PHASES_Port;
+ tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_A_POS_Pin;
+ tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_B_NEG_Pin;
+
+ /* Настройка пинов для прямого включения */
+ tester->htest->SwPhaseReverse.SW_Port = SWITCH_PHASES_Port;
+ tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_B_POS_Pin;
+ tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_A_NEG_Pin;
/* Настройка пинов для кнопки старта */
@@ -206,10 +207,14 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
tester->leds.LED1.LED_Pin = LED1_Pin;
/* Настройка таймингов по умолчанию для тестирования */
- tester->mbdata->HoldRegs.TimeForForward = DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE;
+ tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforeTest = DEF_TIME_BEFORE_TEST;
+ tester->mbdata->Coils.msTimeBeforeTest_enable = DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY;
- tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT;
- tester->mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY;
+ tester->mbdata->HoldRegs.TimeForReverse = DEF_TIME_FOR_REVERSE;
+ tester->mbdata->Coils.msTimeForReverse_enable = DEF_TIME_FOR_REVERSE_MS_DELAY;
+
+ tester->mbdata->HoldRegs.TimeForForward = DEF_TIME_FOR_FORWARD;
+ tester->mbdata->Coils.msTimeForForward_enable = DEF_TIME_FOR_FORWARD_MS_DELAY;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeDeadtime = DEF_DEADTIME;
tester->mbdata->Coils.msTimeDeadtime_enable = DEF_DEADTIME_MS_DELAY;
@@ -217,9 +222,6 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak = DEF_TIME_BEFORE_PEAK;
tester->mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable = DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY;
- tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforeTest = DEF_TIME_BEFORE_TEST;
- tester->mbdata->Coils.msTimeBeforeTest_enable = DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY;
-
/* Настройка АЦП */
tester->mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth = TESTER_ADC_PULSE_EXPETCED_WIDTH;
diff --git a/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx b/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
index 7ddebb9..3347148 100644
--- a/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
+++ b/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
@@ -145,7 +145,7 @@
<SetRegEntry>
<Number>0</Number>
<Key>ST-LINKIII-KEIL_SWO</Key>
- <Name>-U53FF72064980555724221187 -O2254 -SF10000 -C0 -A0 -I0 -HNlocalhost -HP7184 -P1 -N00("ARM CoreSight SW-DP (ARM Core") -D00(1BA01477) -L00(0) -TO131090 -TC10000000 -TT10000000 -TP21 -TDS8007 -TDT0 -TDC1F -TIEFFFFFFFF -TIP8 -FO7 -FD20000000 -FC800 -FN1 -FF0STM32F10x_128.FLM -FS08000000 -FL08000 -FP0($$Device:STM32F103C6$Flash\STM32F10x_128.FLM) -WA0 -WE0 -WVCE4 -WS2710 -WM0 -WP2</Name>
+ <Name>-U005600373433510237363934 -O2254 -SF10000 -C0 -A0 -I0 -HNlocalhost -HP7184 -P1 -N00("ARM CoreSight SW-DP (ARM Core") -D00(1BA01477) -L00(0) -TO131090 -TC10000000 -TT10000000 -TP21 -TDS8007 -TDT0 -TDC1F -TIEFFFFFFFF -TIP8 -FO7 -FD20000000 -FC800 -FN1 -FF0STM32F10x_128.FLM -FS08000000 -FL08000 -FP0($$Device:STM32F103C6$Flash\STM32F10x_128.FLM) -WA0 -WE0 -WVCE4 -WS2710 -WM0 -WP2</Name>
</SetRegEntry>
</TargetDriverDllRegistry>
<Breakpoint/>
@@ -190,6 +190,16 @@
<WinNumber>1</WinNumber>
<ItemText>hmodbus1,0x0A</ItemText>
</Ww>
+ <Ww>
+ <count>8</count>
+ <WinNumber>1</WinNumber>
+ <ItemText>MB_DATA,0x0A</ItemText>
+ </Ww>
+ <Ww>
+ <count>9</count>
+ <WinNumber>1</WinNumber>
+ <ItemText>\\diode_tester\../Core/Interfaces/modbus.c\MB_DATA.HoldRegs.TimeForForward</ItemText>
+ </Ww>
</WatchWindow1>
<WatchWindow2>
<Ww>
@@ -271,7 +281,7 @@
<aLa>0</aLa>
<aPa1>0</aPa1>
<AscS4>0</AscS4>
- <aSer4>0</aSer4>
+ <aSer4>1</aSer4>
<StkLoc>1</StkLoc>
<TrcWin>0</TrcWin>
<newCpu>0</newCpu>
diff --git a/docs/mb_adr.xlsx b/docs/mb_adr.xlsx
index 2fc0eec..4ad9b08 100644
Binary files a/docs/mb_adr.xlsx and b/docs/mb_adr.xlsx differ