Andrey/Diod_Test
2
0
Fork 0
Code Issues 5 Pull Requests Actions Packages Projects Releases Wiki Activity

Merge branch 'main' of https://git.arktika.cyou/Andrey/Diod_Test

Browse Source
This commit is contained in:
andrey 2024-12-24 00:37:11 +03:00
commit 31e2a7368a
14 changed files with 391 additions and 263 deletions
Show Stats Download Patch File Download Diff File Expand all files Collapse all files

119
README.md
View File

@ -1,73 +1,79 @@
# Diod_Test
## Управление тестером
Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 StartTest.
Тест может запускаться по кнопке или по коилу №2 `StartTest`.
Режим тестирования (прямое/обратное включение) выставляется в двух коилах:
- №0 PositiveTest
- №1 NegativeTest
Если включены оба, то будет тест перехода от прямого подлключения к обратному.
- 0: `ForwardTest` - тест напряжения при прямом включении
- 1: `ReverseTest` - тест скачка напряжения при обратном включении
Если включены оба, то будет тест скачка напряжения при переходе от прямого подлключения к обратному.
## Настройка таймингов
Тайминги выставляются в регистрах модбас №0-4:
- TimeForPositiveDC - миллисекундная задержка для положительного напряжения (только миллисекунды_
- TimeBeforeTest - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или тики for())
- TimeBeforePeak - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или тики for())
- TimeBeforeDisconnect - задержка перед выключением питания (миллисекундная или тики for())
- 0: `TimeForForward` - миллисекундная задержка для прямого включения (только миллисекунды)
- 1: `TimeBeforeTest` - задержка перед началом тестирования (миллисекундная или микросекундная)
- 2: `TimeDeadtime` - задержка при переключении с прямого включения в обратное (миллисекундная или микросекундная)
- 3: `TimeBeforePeak` - задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения (миллисекундная или микросекундная)
- 4: `TimeBeforeDisconnect` - задержка перед выключением питания (миллисекундная или микросекундная)
В коилах модбас №16-18, можно выставить флаги - использовать миллисекундную или пустой цикл for() для соответствующей задержки:
- msTimeBeforeTest_enable
- msTimeBeforePeak_enable
- msTimeBeforeDisconnect_enable
В коилах модбас №16-19, можно выставить флаги - использовать миллисекундную задержку вместо микросекундной для соответствующего тайминга:
- 16: `msTimeBeforeTest_enable`
- 17: `msTimeDeadtime_enable`
- 18: `msTimeBeforePeak_enable`
- 19: `msTimeBeforeDisconnect_enable`
## Настройка АЦП
Настройки АЦП выставляются в регистрах модбас №5-9:
- Adc_PulseWidth - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
- Adc_PulseSign - полярность импульса
- Adc_CalibrValue - калибровочное значение ацп
- Adc_ZeroValue - нулевое значение ацп
- Adc_U_Calibr - калибровочное напряжение ацп
- 5: `Adc_PulseWidth` - ожидаемая длительность импульса в отчетах ацп
- 6: `Adc_PulseSign` - полярность импульса
- 7: `Adc_CalibrValue` - калибровочное значение ацп
- 8: `Adc_ZeroValue` - нулевое значение ацп
- 9: `Adc_U_Calibr` - калибровочное напряжение ацп
Из этого рассчитывается шаг АЦП: Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)
Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)`
# Тестирование
## Тест в прямом подключении (TESTER_TestDiode_PositivePower)
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
## Тест в прямом подключении (`TESTER_TestDiode_Forward`)
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
- включается АЦП в континуес режиме
- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc. и все это время считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего.
- диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`.
- считывается АЦП и накапливаются заданное количество для расчета среднего. и так по кругу пока диод подключен
- после таймаута отключается напряжение и останавливается АЦП
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt`.
## Тест в обратном подключении (TESTER_TestDiode_NegativePower)
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
## Тест в обратном подключении (`TESTER_TestDiode_Reverse`)
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
- включается АЦП в дма режиме
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
- подключается отрицательное напряжение на заданное время ticks_before_disconnect, и отключается
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak`
- диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`, и отключается
- после дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе
По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода
По итогу сохраняется скачок напряжение при обратном включении диода `htest->DiodeReversePeakVolt`.
## Тест перехода из прямого подключении в обратное (TESTER_TestDiode_PosNegPower)
- ожидается задержка, перед началом работы ticks_before_test
- подключается положительное напряжение на заданное время msticks_for_positive_dc
- включается АЦП в дма режиме
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком ticks_before_go_to_peak
- переключается положительное напряжение на отрицательное на заданное время ticks_before_disconnect
## Тест перехода из прямого подключении в обратное (`TESTER_TestDiode_SwitchConnection`)
- ожидается задержка, перед началом работы `ticks_before_test`
- диод подключается в прямом направлении на заданное время `msticks_for_forward`
- после истечения задержки сохраняется прямое напражение на диоде
- диод отключается от питания и выжидается мертвое время `ticks_deadtime`
- включается АЦП в дма режиме
- ожидается задержка, перед предполагаемым скачком `ticks_before_peak`
- диод подключается в обратном направлении на заданное время `ticks_before_disconnect`
- дожидается окончание заполнения буфера ДМА и обрабатывается: находится минимальный/максимальный пик и среднее напряжение в том районе
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода и скачок при обратном
По итогу сохраняется напряжение прямого включения диода `htest->DiodeForwardVolt` и скачок при обратном `htest->DiodeReversePeakVolt`.
# Внутренняя настройка
В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (TESTER_Set_Default_Settings)
После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (TESTER_UpdateSettings). Она вызывается перед каждым тестом.
В начале программы в регистрах модбас выставляются дефолтные настройки из tester_config.h (`TESTER_Set_Default_Settings`)
После эти настройки подтягиваются в структуры тестера, через отдельную функцию (`TESTER_UpdateSettings`). Она вызывается перед каждым тестом.
## tester_config.h
Содержит дефолтные настройки для таймингов (TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG):
- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной задержки.
Содержит дефолтные настройки для таймингов (`TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG`):
- количество тиков и дефайн для включения миллисекундной разных задержек.
для светодиода и кнопки (TESTER_INTERFACE_CONFIG):
для светодиода и кнопки (`TESTER_INTERFACE_CONFIG`):
- состояния пина для включения и выключения светодиода
- порт и пин светодиода
- частоты моргания для разных режимов работы
@ -75,17 +81,26 @@
- порт и пин кнопки
- задержка для выжидания дребезга
для управления ключами (TESTER_ADC_CONFIG):
- USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
- ALL_SW_USE_SAME_PORT - используется один пор для всех ключей. Если не используется HAL, то позволяет переключить ключи на обоих источникам синхронно
- состояния пина для подключения и отключения питания
- порт и пины для ключей положительного питания (порт общий для двух ключей)
- порт и пины для ключей положительного питания
для управления ключами (`TESTER_PHASE_SW_CONFIG`):
- `USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS` - использовать HAL_GPIO-функции. Без неё переключается быстрее
- `RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME` - отключить дедтайм при переключении. Если отключить еще и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс). Хз надо ли такое, но возможность есть
- порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей)
- порт и пины для двух ключей обратного подключения диода (порт общий для двух ключей)
для АЦП (TESTER_ADC_CONFIG):
- размер dma буффера (ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE)
- калибровочное напряжение АЦП (ADC_U_CALIBR)
- значение АЦП при калибровочном напряжении (ADC_VALUE_CALIBR)
- значение АЦП при нулевом напряжении (ADC_VALUE_ZERO)
- таймаут на чтение АЦП (ADC_READ_TIMEOUT_MS)
- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH)
для АЦП (`TESTER_ADC_CONFIG`):
- размер dma буффера (`ADC_BUFF_SIZE, ADC_DMA_BUFF_SIZE`)
- калибровочное напряжение АЦП (`ADC_U_CALIBR`)
- значение АЦП при калибровочном напряжении (`ADC_VALUE_CALIBR`)
- значение АЦП при нулевом напряжении (`ADC_VALUE_ZERO`)
- таймаут на чтение АЦП (`ADC_READ_TIMEOUT_MS`)
- ожидаемая длина импульса в отсчетах АЦП (`TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH`)
Из этого рассчитывается шаг АЦП: `Adc_U_Calibr/(Adc_CalibrValue - Adc_ZeroValue)`
## Структуры для настроек
Настройки для таймингов записываются в структуру `SwTimings`, которая находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`.
Настройки светодиода и кнопки записываются в структуры `leds.LED1` и `SwStart`. Они находятся в структуре проекта `TESTER`
Настройки для портов и пинов ключей записываются в структуры `SwPhaseForward` и `SwPhaseReverse`, которые находится в `htest`/`hTestDiode (глобально)`, а она уже в главной структуре проекта `TESTER`.
Настройки для АЦП записыватся в структуру `TESTER.htest->adc->chAdc.s` (`ADC_ParamsTypeDef`).

12
diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h
View File

@ -38,7 +38,7 @@
typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
{
uint16_t ForwardVoltage;
uint16_t PeakVoltage;
uint16_t ReversePeakVoltage;
}MB_DataInRegsTypeDef;
@ -47,8 +47,9 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
*/
typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
{
uint16_t TimeForPositiveDC;
uint16_t TimeForForward;
uint16_t TimeBeforeTest;
uint16_t TimeDeadtime;
uint16_t TimeBeforePeak;
uint16_t TimeBeforeDisconnect;
@ -66,7 +67,7 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
// DEFINES FOR HOLDING REGISTERS ARRAYS
#define R_SETTINGS_ADDR 0
#define R_SETTINGS_QNT 4
#define R_SETTINGS_QNT 10
// DEFINES FOR REGISTERS LOCAL ADDRESSES
@ -100,13 +101,14 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef
{
/* reg 1 */
unsigned PositiveTest:1;
unsigned NegativeTest:1;
unsigned ForwardTest:1;
unsigned ReverseTest:1;
unsigned StartTest:1;
unsigned reserved:13;
/* reg 2 */
unsigned msTimeBeforeTest_enable:1;
unsigned msTimeDeadtime_enable:1;
unsigned msTimeBeforePeak_enable:1;
unsigned msTimeBeforeDisconnect_enable:1;
}MB_DataCoilsTypeDef;

2
diode_tester/Core/MyLibs/mylibs_defs.h
View File

@ -56,7 +56,7 @@ extern void Error_Handler(void);
#ifdef FREERTOS_DELAY
#define msDelay(_ms_) osDelay(_ms_)
#else
#define msDelay(_ms_) HAL_Delay(_ms_)
#define msDelay(_ms_) if(_ms_ != 0) HAL_Delay(_ms_-1)
#endif
/** DELAYS_DEFINES

4
diode_tester/Core/Src/tim.c
View File

@ -82,9 +82,9 @@ void MX_TIM3_Init(void)
/* USER CODE END TIM3_Init 1 */
htim3.Instance = TIM3;
htim3.Init.Prescaler = 0;
htim3.Init.Prescaler = 72-1;
htim3.Init.CounterMode = TIM_COUNTERMODE_UP;
htim3.Init.Period = 8999;
htim3.Init.Period = 65535;
htim3.Init.ClockDivision = TIM_CLOCKDIVISION_DIV1;
htim3.Init.AutoReloadPreload = TIM_AUTORELOAD_PRELOAD_DISABLE;
if (HAL_TIM_Base_Init(&htim3) != HAL_OK)

4
diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c
View File

@ -93,8 +93,8 @@ HAL_StatusTypeDef ADC_DMA_StartRead(TESTER_ADCTypeDef *adc)
{
HAL_StatusTypeDef res;
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(adc->chAdc.ADC_Buff);
if(adc->f.adc_running)
return HAL_BUSY;
/* Очистка флага какая половина DMA уже готова */
adc->f.dmaBufferHalfDone = 0; // никакая, данные DMA пока не готовы в принципе

52
diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
View File

@ -26,15 +26,15 @@
#define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE 2000
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* @brief Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
*/
#define DEF_DEADTIME 500
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
/**
* @brief Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST 500
#define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
@ -43,19 +43,19 @@
* @brief Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП.
*
* Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY
* @note Но если миллисекундная, то скорее всего скачок не попадет в буфер АЦП.
* Поэтому желательно только тики for() (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
* Поэтому желательно только микросекундная (@ref TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY = 0)
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK 5
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK(0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
#define DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY 0 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_PEAK
/**
* @brief Задержка перед окончанием тестирования (отключение питания) ПО УМОЛЧАНИЮ
* @details Задержка миллисекундная или тики for() @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
* @details Задержка миллисекундная или микросекундная @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY
*/
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT 2000
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT (0 - задержка for(), 1 - миллисекундная)
#define DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY 1 ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_DISCONNECT
/** TESTER_SW_TIMINGS_CONFIG
* @}
@ -78,8 +78,8 @@
#define LED1_Pin GPIO_PIN_13 ///< Пин светодиода (при перенастройке надо также перенастроить через cube)
/* Периоды моргания светодиода */
#define LED_POSITIVE_DIODE_PERIOD 250 ///< Моргание для индикации подключенного положительного напряжения
#define LED_NEGATIVE_DIODE_PERIOD 25 ///< Моргание для индикации подключенного отрицательного напряжения
#define LED_FORWARD_DIODE_PERIOD 250 ///< Моргание для индикации подключенного положительного напряжения
#define LED_REVERSE_DIODE_PERIOD 25 ///< Моргание для индикации подключенного отрицательного напряжения
#define LED_BLINK_AS_ON 5 ///< Моргание незаметное для глаза (светодиод просто включен)
@ -100,32 +100,32 @@
*/
/**
* @addtogroup TESTER_POWER_SW_CONFIG Configs for switches for power
* @addtogroup TESTER_PHASE_SW_CONFIG Configs for switches for phases
* @ingroup TESTER_CONFIGS
* @brief Конфигурации для ключей питания
* @brief Конфигурации для ключей фаз
@{
*/
#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< Использовать для переключения пинов HAL функции
#define ALL_SW_USE_SAME_PORT ///< Дефайн указывающий что все пины будут иметь один порт (для ускорения переключения)
//#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS ///< По этому дефайну для переключения пинов будут использоваться HAL_GPIO функции
//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс)
/* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
#define POWER_CONNECT 1 ///< Питание подключено в данном состоянии пина
#define POWER_DISCONNECT 0 ///< Питание отключено в данном состоянии пина
#define PHASE_CONNECT 1 ///< Ключ замкнут подключено в данном состоянии пина
#define PHASE_DISCONNECT 0 ///< Ключ разомкнут отключено в данном состоянии пина
/* Ключи для подключения положительного питания к диоду */
/* Ключи для прямого включения диода */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_PHASE_A_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_PHASE_A_HI_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для земли положительного источника питания
#define SWITCH_PHASE_A_LO_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для напряжения положительного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_FORWARD_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для прямого включения диода
#define SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin GPIO_PIN_0 ///< Пин первого ключа для прямого включения диода
#define SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin GPIO_PIN_1 ///< Пин второго ключа для прямого включения диода
/* Ключи для подключения отрицательного питания к диоду */
/* Ключи для обратного включения диода */
/* (при перенастройке надо также перенастроить через cube) */
#define SWITCH_PHASE_B_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_B_HI_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для земли отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_B_LO_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для напряжения отрицательного источника ппитания
#define SWITCH_PHASE_REVERSE_Port GPIOB ///< Порт пина первого ключа для обратного включения диода
#define SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin GPIO_PIN_10 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода
#define SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin GPIO_PIN_11 ///< Пин первого ключа для обратного включения диода
/** TESTER_POWER_SW_CONFIG
/** TESTER_PHASE_SW_CONFIG
* @}
*/

248
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c
View File

@ -19,38 +19,42 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
/**
* @brief Тест диодов: подключение прямого напряжения
*/
void TESTER_TestDiode_PositivePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
/* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_LED_TestingDiode_Positive(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_TimeoutForStartTest(&htest->leds->LED1);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1);
/* Включение континиус АЦП */
HAL_ADC_Start(htest->adc->hadc);
/* Подкючение питания к диоду */
TESTER_Connect_Power(&htest->DCPosSw);
/* Прямое включение диода */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Подключение питания на определенное время */
/* Прямое включение на определенное время */
uint32_t tickstart = HAL_GetTick();
HAL_StatusTypeDef res;
while(1)
{
/* Считывание АЦП пока таймаут истечет */
res = ADC_ReadContinuous(htest->adc, htest->continuous_buff_size, tickstart, htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc);
res = ADC_ReadContinuous(htest->adc, htest->continuous_buff_size, tickstart, htest->SwTimings.msticks_for_forward);
if(res != HAL_OK)
break;
}
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCPosSw);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
/* Выключение континиус АЦП */
HAL_ADC_Stop(htest->adc->hadc);
TESTER_LED_TestingDiode_End(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_WaitForAction(&htest->leds->LED1);
htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
}
@ -58,150 +62,200 @@ void TESTER_TestDiode_PositivePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
/**
* @brief Тест диодов: подключение обратного напряжения
*/
void TESTER_TestDiode_NegativePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
/* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_LED_TestingDiode_Negative(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_TimeoutForStartTest(&htest->leds->LED1);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(htest->adc);
/* Задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
/* Подкючение питания к диоду */
TESTER_Connect_Power(&htest->DCNegSw);
/* Обратное включение диода */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
/* Подключение питания на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
/* Обратное включение на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCNegSw);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
TESTER_LED_TestingDiode_End(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_WaitForAction(&htest->leds->LED1);
htest->DiodePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
htest->DiodeReversePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
}
/**
* @brief Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения
*/
void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
{
/* Очистка буферов каналов */
ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
/* Задержка, перед началом работы */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test);
TESTER_LED_TestingDiode_Positive(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_TimeoutForStartTest(&htest->leds->LED1);
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1);
/* Подкючение питания к диоду */
TESTER_Connect_Power(&htest->DCPosSw);
/* Прямое включение диода */
TESTER_Connect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Подкючение положительного питания к диоду */
msDelay(htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc);
/* Прямое включение на определенное время */
msDelay(htest->SwTimings.msticks_for_forward);
htest->DiodeForwardVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
TESTER_LED_TestingDiode_Negative(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1);
/* Переход из прямого включения в обратное */
TESTER_Reconnect_TwoPhases(&htest->SwPhaseForward, &htest->SwPhaseReverse, &htest->SwTimings.ticks_deadtime);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(htest->adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak);
/* Обратное включение на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Reconnect_Power(&htest->DCPosSw, &htest->DCNegSw);
/* Подключение отрицательного питания на определенное время */
TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect);
/* Отключение питания от диода */
TESTER_Disconnect_Power(&htest->DCNegSw);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
/* Обработка DMA */
ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
TESTER_LED_TestingDiode_End(&htest->leds->LED1);
TESTER_LED_WaitForAction(&htest->leds->LED1);
htest->DiodePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
htest->DiodeReversePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;
}
/**
* @brief Подключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
* @brief Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Connect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw)
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin, POWER_CONNECT);
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (POWER_CONNECT == 1)
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin;
#else //POWER_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin) << 16;
#endif //POWER_CONNECT == 1
#if (PHASE_CONNECT == 1)
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
}
/**
* @brief Отключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
* @brief Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Disconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw)
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin, POWER_DISCONNECT);
HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#if (POWER_DISCONNECT == 0)
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin) << 16;
#else //POWER_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwGND_Pin | DCSw->SwVDD_Pin;
#endif //POWER_CONNECT == 1
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_CONNECT == 1
DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_CONNECT == 1
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
}
/**
* @brief Переключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef
* @brief Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
*/
void TESTER_Reconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCPosSw, TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCNegSw)
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime)
{
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(DCPosSw->SW_Port, DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin, POWER_DISCONNECT);
HAL_GPIO_WritePin(DCNegSw->SW_Port, DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin, POWER_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#ifdef ALL_SW_USE_SAME_PORT
#if (POWER_CONNECT == 1) && (POWER_DISCONNECT == 0)
DCPosSw->SW_Port->BSRR = ((DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) | ((DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin) << 16));
#elif (POWER_CONNECT == 1) && (POWER_DISCONNECT == 0)
DCPosSw->SW_Port->BSRR = (((DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) << 16)| (DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin));
#endif //POWER_CONNECT && POWER_DISCONNECT
#else //ALL_SW_USE_SAME_PORT
#if (POWER_DISCONNECT == 0)
DCPosSw->SW_Port->BSRR = (DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin) << 16;
#else //POWER_DISCONNECT == 1
DCPosSw->SW_Port->BSRR = DCPosSw->SwGND_Pin | DCPosSw->SwVDD_Pin;
#endif //POWER_DISCONNECT
#if (POWER_CONNECT == 1)
DCNegSw->SW_Port->BSRR = DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin;
#else //POWER_CONNECT == 0
DCNegSw->SW_Port->BSRR = (DCNegSw->SwGND_Pin | DCNegSw->SwVDD_Pin) << 16;
#endif //POWER_CONNECT
#endif //ALL_SW_USE_SAME_PORT
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
}
/**
* @brief Формирование задержки (в тиках или миллисекундная)
*/
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay)
{
/* Задержка, перед подключением питания */
if(tickdelay->msdelay == 0) // если миллисекундная задержка выключена
/* Если дедтайм меньше 100 мкс, то сначала запускаем АЦП а потом дедтаймим */
/* Потому что эта функция по длительности порядка 30 мкс, поэтому дедтайм получается не может быть меньше 30 мкс*/
if(deadtime->msdelay == 0)
{
/* Задержка, в тиках */
for(int i = 0; i < tickdelay->ticks; i++);
if(deadtime->ticks < 100)
{
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
}
}
else // если миллисекундная задержка включена
#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseA->SW_Port, SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
#ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseB->SW_Port, SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
#ifdef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = ((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) | ((SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16));
#elif (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16)| (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin));
#endif //PHASE_CONNECT && PHASE_DISCONNECT
#else //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#if (PHASE_DISCONNECT == 0)
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16;
#else //PHASE_DISCONNECT == 1
SwPhaseA->SW_Port->BSRR = SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin;
#endif //PHASE_DISCONNECT
/* Ожидается задержка дедтайм */
TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
/* Включение АЦП */
ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
/* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);
#if (PHASE_CONNECT == 1)
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin;
#else //PHASE_CONNECT == 0
SwPhaseB->SW_Port->BSRR = (SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16;
#endif //PHASE_CONNECT
#endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
}
/**
* @brief Формирование задержки (в микро или миллисекундная)
*/
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay, TIM_HandleTypeDef *htim)
{
/* если миллисекундная задержка выключена */
if(tickdelay->msdelay == 0)
{
htim->Instance->CNT = 1;
uint32_t tickstart = HAL_GetTick();
/* Задержка, в мкс */
while(htim->Instance->CNT < tickdelay->ticks)
{
/* Если прошло уже больше секунды, а микросекундная задержка не закончилась - возврат */
if(HAL_GetTick() - tickstart > 1000)
return;
}
}
/* если миллисекундная задержка включена */
else
{
/* Задержка, в миллисекундах */
msDelay(tickdelay->ticks);

52
diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h
View File

@ -14,16 +14,21 @@
#include "tester_adc_func.h"
#include "tester_interface_func.h"
/**
* @brief Хендл микросекундного таймера
*/
#define hmcstim htim3
extern TIM_HandleTypeDef htim3;
/**
* @brief Структура для пинов, которые отвечают за ключи, которые подключают питание
* @brief Структура для пинов, которые отвечают за ключи, которые подключают фазы
*/
typedef struct
{
GPIO_TypeDef *SW_Port; ///< Порт первого ключа для питания
uint32_t SwGND_Pin; ///< Пин первого ключа для питания
uint32_t SwVDD_Pin; ///< Пин второго ключа для питания
}TESTER_PowerSwitchTypeDef;
GPIO_TypeDef *SW_Port; ///< Порт первого ключа для фазы
uint32_t SwHI_Pin; ///< Пин первого ключа для фазы
uint32_t SwLO_Pin; ///< Пин второго ключа для фазы
}TESTER_PhaseSwitchTypeDef;
/**
@ -40,10 +45,11 @@ typedef struct
*/
typedef struct
{
uint32_t msticks_for_positive_dc; ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_PositivePower
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_go_to_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или тики for())
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением питания (мс или тики for())
uint32_t msticks_for_forward; ///< миллисекундная задержка для положительного напряжения @ref TESTER_TestDiode_Forward
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_test; ///< задержка перед началом тестирования (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_deadtime; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_expected_peak; ///< задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения, чтобы точно поймать его в буфере АЦП (мс или мкс)
TESTER_TicksDelayTypeDef ticks_before_disconnect; ///< задержка перед выключением фаз (мс или мкс)
}TESTER_SwitchTimingsTypeDef;
/**
@ -55,13 +61,13 @@ typedef struct
TESTER_SwitchTimingsTypeDef SwTimings; ///< Тайминги для ключей
TESTER_PowerSwitchTypeDef DCPosSw; ///< Пины ключей для положительного источника
TESTER_PowerSwitchTypeDef DCNegSw; ///< Пины ключей для отрицательного источника
TESTER_PhaseSwitchTypeDef SwPhaseForward; ///< Пины ключей фаз для прямого включения
TESTER_PhaseSwitchTypeDef SwPhaseReverse; ///< Пины ключей фаз для обратного включения
uint32_t continuous_buff_size;
float DiodeForwardVolt;
float DiodePeakVolt;
float DiodeReversePeakVolt;
TESTER_LEDsTypeDef *leds;
}TESTER_TestHandleTypeDef;
@ -73,19 +79,19 @@ extern TESTER_TestHandleTypeDef hTestDiode;
void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds);
/* Тест диодов: подключение прямого напряжения */
void TESTER_TestDiode_PositivePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тест диодов: подключение обратного напряжения */
void TESTER_TestDiode_NegativePower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения */
void TESTER_TestDiode_PosNegPower(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
/* Подключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
void TESTER_Connect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw);
/* Отключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCSw);
/* Переключить питание с помощью ключей (пинов) в TESTER_PowerSwitchTypeDef */
void TESTER_Reconnect_Power(TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCPosSw, TESTER_PowerSwitchTypeDef *DCNegSw);
/* Формирование задержки перед подключением питания (в тиках или миллисекундная) */
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay);
/* Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
/* Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime);
/* Формирование задержки (в микро или миллисекундная) */
void TESTER_Delay(TESTER_TicksDelayTypeDef *tickdelay, TIM_HandleTypeDef *htim);
#endif //_TESTER_FUNC_H_

46
diode_tester/Core/Tester_main/tester_interface_func.c
View File

@ -8,26 +8,37 @@ void TESTER_InterfaceInit(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart, TESTER_LEDsTypeDef
{
}
/**
* @brief Включить индикацию таймаута старта при активации теста
*/
void TESTER_LED_TimeoutForStartTest(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
TESTER_LED_Off(led);
}
/**
* @brief Включить индикацию прямого подключения диода
*/
void TESTER_LED_TestingDiode_Positive(TESTER_LEDTypeDef *led)
void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
led->period = LED_POSITIVE_DIODE_PERIOD;
led->state = LED_IS_BLINKING;
led->period = LED_FORWARD_DIODE_PERIOD;
}
/**
* @brief Включить индикацию обратного подключения диода
*/
void TESTER_LED_TestingDiode_Negative(TESTER_LEDTypeDef *led)
void TESTER_LED_TestingDiodeReverse(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
led->period = LED_NEGATIVE_DIODE_PERIOD;
led->state = LED_IS_BLINKING;
led->period = LED_REVERSE_DIODE_PERIOD;
}
/**
* @brief Выключить индикацию активного теста диодов
* @brief Выключить индикацию ожидания комманды
* @details Сделано через моргание, чтобы понимать, что системные тики работают
*/
void TESTER_LED_TestingDiode_End(TESTER_LEDTypeDef *led)
void TESTER_LED_WaitForAction(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
led->state = LED_IS_BLINKING;
led->period = LED_BLINK_AS_ON;
}
@ -63,6 +74,7 @@ uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart)
*/
void TESTER_LED_On(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
led->state = LED_IS_ON;
HAL_GPIO_WritePin(led->LED_Port, led->LED_Pin, LED_ON);
}
/**
@ -70,18 +82,30 @@ void TESTER_LED_On(TESTER_LEDTypeDef *led)
*/
void TESTER_LED_Off(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
led->state = LED_IS_OFF;
HAL_GPIO_WritePin(led->LED_Port, led->LED_Pin, LED_OFF);
}
/**
* @brief Активировать моргание светодиодом
*/
void TESTER_LED_Blink_Start(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
led->state = LED_IS_BLINKING;
}
/**
* @brief Моргание светодиодом
*/
void TESTER_LED_Blink(TESTER_LEDTypeDef *led)
void TESTER_LEDBlink_Handle(TESTER_LEDTypeDef *led)
{
uint32_t tickcurrent = HAL_GetTick();
if((tickcurrent - led->tickprev) > led->period)
if(led->state == LED_IS_BLINKING)
{
HAL_GPIO_TogglePin(led->LED_Port, led->LED_Pin);
led->tickprev = tickcurrent;
uint32_t tickcurrent = HAL_GetTick();
if((tickcurrent - led->tickprev) > led->period)
{
HAL_GPIO_TogglePin(led->LED_Port, led->LED_Pin);
led->tickprev = tickcurrent;
}
}
}

21
diode_tester/Core/Tester_main/tester_interface_func.h
View File

@ -14,9 +14,17 @@
#include "mylibs_include.h"
#include "rs_message.h"
typedef enum
{
LED_IS_OFF = 0,
LED_IS_ON = 1,
LED_IS_BLINKING = 2,
}TESTER_LEDStateTypeDef;
typedef struct
{
TESTER_LEDStateTypeDef state;
GPIO_TypeDef *LED_Port;
uint32_t LED_Pin;
@ -46,13 +54,14 @@ typedef struct
void TESTER_InterfaceInit(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart, TESTER_LEDsTypeDef *leds);
/* Включить индикацию таймаута старта при активации теста */
void TESTER_LED_TimeoutForStartTest(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Включить индикацию прямого подключения диода */
void TESTER_LED_TestingDiode_Positive(TESTER_LEDTypeDef *led);
void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Включить индикацию обратного подключения диода */
void TESTER_LED_TestingDiode_Negative(TESTER_LEDTypeDef *led);
void TESTER_LED_TestingDiodeReverse(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Выключить индикацию активного теста диодов */
void TESTER_LED_TestingDiode_End(TESTER_LEDTypeDef *led);
void TESTER_LED_WaitForAction(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Считать состоянии кнопки запуска */
uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart);
@ -60,7 +69,9 @@ uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart);
void TESTER_LED_On(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Выключить светодиод */
void TESTER_LED_Off(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Активировать моргание светодиодом */
void TESTER_LED_Blink_Start(TESTER_LEDTypeDef *led);
/* Моргание светодиодом */
void TESTER_LED_Blink(TESTER_LEDTypeDef *led);
void TESTER_LEDBlink_Handle(TESTER_LEDTypeDef *led);
#endif //_TESTER_INTERFACE_FUNC_H_

70
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
View File

@ -36,6 +36,7 @@ void TESTER_pre_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
RS_Receive_IT(tester->hmodbus, &MODBUS_MSG);
tester->leds.LED1.period = LED_BLINK_AS_ON;
tester->f.flag_init_done = 1;
HAL_TIM_Base_Start(&hmcstim);
}
@ -49,46 +50,46 @@ void TESTER_main_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
msDelay(tester->delay);
/* ТЕСТ В ОБРАТНОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
if(tester->func.test_diode_neg)
if(tester->func.test_diode_reverse)
{
tester->f.flag_test_active = 1;
TESTER_TestDiode_NegativePower(tester->htest);
TESTER_TestDiode_Reverse(tester->htest);
/* Запись данных в modbus */
tester->mbdata->InRegs.PeakVoltage = tester->htest->DiodePeakVolt*1000;
tester->mbdata->InRegs.ReversePeakVoltage = tester->htest->DiodeReversePeakVolt*1000;
if(tester->func.disable_reset_call == 0)
tester->func.test_diode_neg = 0;
tester->func.test_diode_reverse = 0;
tester->f.flag_test_active = 0;
}
/* ТЕСТ В ПРЯМОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
if(tester->func.test_diode_pos)
if(tester->func.test_diode_forward)
{
tester->f.flag_test_active = 1;
TESTER_TestDiode_PositivePower(tester->htest);
TESTER_TestDiode_Forward(tester->htest);
/* Запись данных в modbus */
tester->mbdata->InRegs.ForwardVoltage = tester->htest->DiodeForwardVolt*1000;
if(tester->func.disable_reset_call == 0)
tester->func.test_diode_pos = 0;
tester->func.test_diode_forward = 0;
tester->f.flag_test_active = 0;
}
/* ТЕСТ ПЕРЕХОДА ИЗ ПРЯМОГО В ОБРАТНОЕ ВКЛЮЧЕНИЯ*/
if(tester->func.test_diode_posneg)
if(tester->func.test_diode_switch_connection)
{
tester->f.flag_test_active = 1;
TESTER_TestDiode_PosNegPower(tester->htest);
TESTER_TestDiode_SwitchConnection(tester->htest);
/* Запись данных в modbus */
tester->mbdata->InRegs.PeakVoltage = tester->htest->DiodePeakVolt*1000;
tester->mbdata->InRegs.ReversePeakVoltage = tester->htest->DiodeReversePeakVolt*1000;
tester->mbdata->InRegs.ForwardVoltage = tester->htest->DiodeForwardVolt*1000;
if(tester->func.disable_reset_call == 0)
tester->func.test_diode_posneg = 0;
tester->func.test_diode_switch_connection = 0;
tester->f.flag_test_active = 0;
}
@ -117,16 +118,16 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
TESTER_UpdateSettings(tester->htest, tester->mbdata);
switch(tester->mode)
{
case TEST_POSITIVE:
tester->func.test_diode_pos = 1;
case TEST_FORWARD:
tester->func.test_diode_forward = 1;
break;
case TEST_NEGATIVE:
tester->func.test_diode_neg = 1;
case TEST_REVERSE:
tester->func.test_diode_reverse = 1;
break;
case TEST_POSNEG:
tester->func.test_diode_posneg = 1;
case TEST_SWITCH_CONNECTION:
tester->func.test_diode_switch_connection = 1;
break;
default:
@ -135,7 +136,7 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
}
TESTER_LED_Blink(&tester->leds.LED1);
TESTER_LEDBlink_Handle(&tester->leds.LED1);
}
@ -146,12 +147,14 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
void TESTER_UpdateSettings(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, MB_DataStructureTypeDef *mbdata)
{
htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect;
htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak;
htest->SwTimings.ticks_deadtime.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeDeadtime;
htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak;
htest->SwTimings.ticks_before_test.ticks = mbdata->HoldRegs.TimeBeforeTest;
htest->SwTimings.msticks_for_positive_dc = mbdata->HoldRegs.TimeForPositiveDC;
htest->SwTimings.msticks_for_forward = mbdata->HoldRegs.TimeForForward;
htest->SwTimings.ticks_before_disconnect.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_go_to_peak.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable;
htest->SwTimings.ticks_deadtime.msdelay = mbdata->Coils.msTimeDeadtime_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_expected_peak.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable;
htest->SwTimings.ticks_before_test.msdelay = mbdata->Coils.msTimeBeforeTest_enable;
TESTER_ADC_UpdateSettings(htest->adc, mbdata);
@ -163,18 +166,18 @@ void TESTER_UpdateSettings(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, MB_DataStructureType
*/
void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
{
tester->mbdata->Coils.PositiveTest = 1;
tester->mbdata->Coils.NegativeTest = 1;
tester->mbdata->Coils.ForwardTest = 1;
tester->mbdata->Coils.ReverseTest = 1;
/* Настройка пинов для подключения отрицательного источника */
tester->htest->DCNegSw.SW_Port = SWITCH_PHASE_B_Port;
tester->htest->DCNegSw.SwGND_Pin = SWITCH_PHASE_B_HI_Pin;
tester->htest->DCNegSw.SwVDD_Pin = SWITCH_PHASE_B_LO_Pin;
/* Настройка пинов для прямого включения */
tester->htest->SwPhaseReverse.SW_Port = SWITCH_PHASE_REVERSE_Port;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_REVERSE_LO_Pin;
/* Настройка пинов для подключения положительного источника */
tester->htest->DCPosSw.SW_Port = SWITCH_PHASE_A_Port;
tester->htest->DCPosSw.SwGND_Pin = SWITCH_PHASE_A_HI_Pin;
tester->htest->DCPosSw.SwVDD_Pin = SWITCH_PHASE_A_LO_Pin;
/* Настройка пинов для обратного включения */
tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port = SWITCH_PHASE_FORWARD_Port;
tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_HI_Pin;
tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin = SWITCH_PHASE_FORWARD_LO_Pin;
/* Настройка пинов для кнопки старта */
@ -189,11 +192,14 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
/* Настройка таймингов по умолчанию для тестирования */
tester->mbdata->HoldRegs.TimeForPositiveDC = DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeForForward = DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforeDisconnect = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT;
tester->mbdata->Coils.msTimeBeforeDisconnect_enable = DEF_TIME_BEFORE_DISCONNECT_MS_DELAY;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeDeadtime = DEF_DEADTIME;
tester->mbdata->Coils.msTimeDeadtime_enable = DEF_DEADTIME_MS_DELAY;
tester->mbdata->HoldRegs.TimeBeforePeak = DEF_TIME_BEFORE_PEAK;
tester->mbdata->Coils.msTimeBeforePeak_enable = DEF_TIME_BEFORE_PEAK_MS_DELAY;

12
diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.h
View File

@ -19,9 +19,9 @@
*/
typedef struct
{
unsigned test_diode_neg:1;
unsigned test_diode_posneg:1;
unsigned test_diode_pos:1;
unsigned test_diode_reverse:1;
unsigned test_diode_switch_connection:1;
unsigned test_diode_forward:1;
unsigned disable_reset_call:1;
}function_calls;
@ -38,9 +38,9 @@ typedef struct
typedef enum
{
TEST_DISABLE = 0,
TEST_POSITIVE = 1,
TEST_NEGATIVE = 2,
TEST_POSNEG = 3
TEST_FORWARD = 1,
TEST_REVERSE = 2,
TEST_SWITCH_CONNECTION = 3
}TESTER_TestModeTypeDef;

10
diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
View File

@ -207,6 +207,16 @@
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>val_sum,0x0A</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>5</count>
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
</Ww>
<Ww>
<count>6</count>
<WinNumber>2</WinNumber>
<ItemText>\\diode_tester\../Core/Tester_main/tester_main.c\TESTER</ItemText>
</Ww>
</WatchWindow2>
<Tracepoint>
<THDelay>0</THDelay>

2
diode_tester/diode_tester.ioc
View File

@ -158,7 +158,7 @@ RCC.VCOOutput2Freq_Value=8000000
SH.ADCx_IN0.0=ADC1_IN0,IN0
SH.ADCx_IN0.ConfNb=1
TIM3.IPParameters=Period,Prescaler,TIM_MasterOutputTrigger
TIM3.Period=10000
TIM3.Period=65535
TIM3.Prescaler=72-1
TIM3.TIM_MasterOutputTrigger=TIM_TRGO_UPDATE
USART1.IPParameters=VirtualMode