diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c
index b4e9a2d..8ce040b 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c
@@ -86,7 +86,7 @@ void TESTER_ADC_UpdateSettings(TESTER_ADCTypeDef *adc, MB_DataStructureTypeDef *
   adc->chAdc.s.expected_pulse_sign = mbdata->HoldRegs.Adc_PulseSign;
   adc->chAdc.s.pulse_width = mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth;
   
-  adc->chAdc.s.U_step = (float)mbdata->HoldRegs.Adc_U_Calibr/(adc->chAdc.s.ADC_calibr - adc->chAdc.s.ADC_zero);
+  adc->chAdc.s.U_step = ((float)mbdata->HoldRegs.Adc_U_Calibr/1000)/(adc->chAdc.s.ADC_calibr - adc->chAdc.s.ADC_zero);
 }
 
 HAL_StatusTypeDef ADC_DMA_StartRead(TESTER_ADCTypeDef *adc)
diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
index 2682c6a..ca99197 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h
@@ -25,12 +25,6 @@
   */
 #define DEF_MS_TIME_FOR_POSITIVE              2000
 
-/**
-  * @brief    Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
-  * @details  Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
-  */
-#define DEF_DEADTIME                          500
-#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY                 0         ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
 
 /**
   * @brief    Задержка перед началом тестирования ПО УМОЛЧАНИЮ
@@ -39,6 +33,13 @@
 #define DEF_TIME_BEFORE_TEST                  500
 #define DEF_TIME_BEFORE_TEST_MS_DELAY         1         ///< включение миллисекундной задержки для @ref TIME_BEFORE_TEST по умолчанию
 
+/**
+  * @brief    Задержка для дедтайма ПО УМОЛЧАНИЮ
+  * @details  Задержка миллисекундная или микросекундная @ref DEF_DEADTIME_MS_DELAY
+  */
+#define DEF_DEADTIME                          500
+#define DEF_DEADTIME_MS_DELAY                 0         ///< включение миллисекундной задержки для @ref DEF_DEADTIME по умолчанию
+
 /**
   * @brief    Задержка между включением АЦП и предполагаемым скачком напряжения ПО УМОЛЧАНИЮ
   * @details  Задержка нужна, чтобы точно поймать его в буфере АЦП. 
@@ -135,6 +136,8 @@
   * @brief      Конфигурации для АЦП
 	@{
 	*/
+#define TESTER_ADC_PULSE_EXPETCED_WIDTH   4   ///< Предполагаемая длительность пика в отчетах ацп
+#define TESTER_ADC_PULSE_SIGN             0   ///< Полярность импульса 0 - положительная, 1 - отрицательая
   
 #define ADC_BUFF_SIZE                           (200)               ///< Размер буфера АЦП
 #define ADC_DMA_BUFF_SIZE                       (ADC_BUFF_SIZE)     ///< Размер буфера ДМА (1 канал)
@@ -145,7 +148,6 @@
   
 #define ADC_READ_TIMEOUT_MS                     20                  ///< Таймаут на ожидание разрядки конденсатора
 
-#define TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH   4   ///< Предполагаемая длительность пика в отчетах ацп
 
 /** TESTER_ADC_CONFIG
   * @}
diff --git a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
index 4ea9688..407bba3 100644
--- a/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
+++ b/diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c
@@ -220,7 +220,7 @@ void TESTER_Set_Default_Settings(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
   
   
   /* Настройка АЦП */
-  tester->mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth             = TESTER_ADC_PULES_EXPETCED_WIDTH;
+  tester->mbdata->HoldRegs.Adc_PulseWidth             = TESTER_ADC_PULSE_EXPETCED_WIDTH;
   tester->mbdata->HoldRegs.Adc_CalibrValue            = ADC_VALUE_CALIBR;
   tester->mbdata->HoldRegs.Adc_ZeroValue              = ADC_VALUE_ZERO;
   tester->mbdata->HoldRegs.Adc_U_Calibr               = ADC_U_CALIBR;
diff --git a/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx b/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
index a2aa8ef..200d7cf 100644
--- a/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
+++ b/diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx
@@ -148,7 +148,24 @@
           <Name>-U53FF72064980555724221187 -O2254 -SF10000 -C0 -A0 -I0 -HNlocalhost -HP7184 -P1 -N00("ARM CoreSight SW-DP (ARM Core") -D00(1BA01477) -L00(0) -TO131090 -TC10000000 -TT10000000 -TP21 -TDS8007 -TDT0 -TDC1F -TIEFFFFFFFF -TIP8 -FO7 -FD20000000 -FC800 -FN1 -FF0STM32F10x_128.FLM -FS08000000 -FL08000 -FP0($$Device:STM32F103C6$Flash\STM32F10x_128.FLM) -WA0 -WE0 -WVCE4 -WS2710 -WM0 -WP2</Name>
         </SetRegEntry>
       </TargetDriverDllRegistry>
-      <Breakpoint/>
+      <Breakpoint>
+        <Bp>
+          <Number>0</Number>
+          <Type>0</Type>
+          <LineNumber>89</LineNumber>
+          <EnabledFlag>1</EnabledFlag>
+          <Address>134240776</Address>
+          <ByteObject>0</ByteObject>
+          <HtxType>0</HtxType>
+          <ManyObjects>0</ManyObjects>
+          <SizeOfObject>0</SizeOfObject>
+          <BreakByAccess>0</BreakByAccess>
+          <BreakIfRCount>1</BreakIfRCount>
+          <Filename>..\Core\Tester_main\tester_adc_func.c</Filename>
+          <ExecCommand></ExecCommand>
+          <Expression>\\diode_tester\../Core/Tester_main/tester_adc_func.c\89</Expression>
+        </Bp>
+      </Breakpoint>
       <WatchWindow1>
         <Ww>
           <count>0</count>
diff --git a/docs/mb_adr.xlsx b/docs/mb_adr.xlsx
index b8ee642..926cf96 100644
Binary files a/docs/mb_adr.xlsx and b/docs/mb_adr.xlsx differ