#3 Добавлена индикация перед началом теста и изменен механизм дедтайма и начало считывания АЦП

Теперь это считается в TESTER_Reconnect_TwoPhases:
Если дедтайм меньше 100мкс, сначала начинает считывание АЦП, а потом переключаем ключи. Потому что функция запуска АЦП занимает 30мкс и в таком случае она будет сильно увеличивать заданный дедтайм.
Иначе сначала диод отключается от всего, выжидается дедтайм, потом запускается АЦП и включается в обратном направлении. В таком порядке потому что запуск АЦП должен быть рядом с включем диода в обратном направлении, чтобы словить пик в буффере АЦП

diode_tester/Core/Tester_main/tester_adc_func.c

@@ -93,8 +93,8 @@ HAL_StatusTypeDef ADC_DMA_StartRead(TESTER_ADCTypeDef *adc)
 {
   HAL_StatusTypeDef res;
   
-  /* Очистка буферов каналов */
-  ClearStruct(adc->chAdc.ADC_Buff);
+  if(adc->f.adc_running)
+    return HAL_BUSY;
   
   /* Очистка флага какая половина DMA уже готова */
   adc->f.dmaBufferHalfDone = 0; // никакая, данные DMA пока не готовы в принципе

diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c

@@ -21,7 +21,11 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
   */
 void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 {
+  /* Очистка буферов каналов */
+  ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
+  
   /* Задержка, перед началом работы */
+  TESTER_LED_TimeoutForStartTest(&htest->leds->LED1);
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
   TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1);
   
@@ -60,7 +64,11 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   */
 void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 {
+  /* Очистка буферов каналов */
+  ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
+  
   /* Задержка, перед началом работы */
+  TESTER_LED_TimeoutForStartTest(&htest->leds->LED1);
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
   TESTER_LED_TestingDiodeReverse(&htest->leds->LED1);
   
@@ -94,7 +102,11 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   */
 void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 { 
+  /* Очистка буферов каналов */
+  ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
+  
   /* Задержка, перед началом работы */
+  TESTER_LED_TimeoutForStartTest(&htest->leds->LED1);
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_test, &hmcstim);
   TESTER_LED_TestingDiodeForward(&htest->leds->LED1);
   
@@ -160,7 +172,20 @@ void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
   */
 void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime)
 {
+  /* Если дедтайм меньше 100 мкс, то сначала запускаем АЦП а потом дедтаймим */
+  /* Потому что эта функция по длительности порядка 30 мкс, поэтому дедтайм получается не может быть меньше 30 мкс*/
+  if(deadtime->msdelay == 0)
+  {
+    if(deadtime->ticks < 100)
+    {
+      /* Включение АЦП */
+      ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);  
+    }
+  }
+    
+  
 #ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+  
   HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseA->SW_Port, SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
   
   #ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME

diode_tester/Core/Tester_main/tester_interface_func.c

@@ -8,12 +8,20 @@ void TESTER_InterfaceInit(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart, TESTER_LEDsTypeDef
 {
 }
 
+/**
+* @brief Включить индикацию таймаута старта при активации теста
+	*/
+void TESTER_LED_TimeoutForStartTest(TESTER_LEDTypeDef *led)
+{
+  TESTER_LED_Off(led);
+}
 
 /**
   * @brief Включить индикацию прямого подключения диода
 	*/
 void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led)
 {
+  led->state = LED_IS_BLINKING;
   led->period = LED_FORWARD_DIODE_PERIOD;
 }
 /**
@@ -21,13 +29,16 @@ void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led)
 	*/
 void TESTER_LED_TestingDiodeReverse(TESTER_LEDTypeDef *led)
 {
+  led->state = LED_IS_BLINKING;
   led->period = LED_REVERSE_DIODE_PERIOD;
 }
 /**
   * @brief Выключить индикацию ожидания комманды
+  * @details Сделано через моргание, чтобы понимать, что системные тики работают
 	*/
 void TESTER_LED_WaitForAction(TESTER_LEDTypeDef *led)
 {
+  led->state = LED_IS_BLINKING;
   led->period = LED_BLINK_AS_ON;
 }
 
@@ -63,6 +74,7 @@ uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart)
   */
 void TESTER_LED_On(TESTER_LEDTypeDef *led)
 {
+  led->state = LED_IS_ON;
   HAL_GPIO_WritePin(led->LED_Port, led->LED_Pin, LED_ON);
 }
 /**
@@ -70,13 +82,24 @@ void TESTER_LED_On(TESTER_LEDTypeDef *led)
   */
 void TESTER_LED_Off(TESTER_LEDTypeDef *led)
 {
+  led->state = LED_IS_OFF;
   HAL_GPIO_WritePin(led->LED_Port, led->LED_Pin, LED_OFF);
 }
 
+/**
+  * @brief Активировать моргание светодиодом
+	*/
+void TESTER_LED_Blink_Start(TESTER_LEDTypeDef *led)
+{
+  led->state = LED_IS_BLINKING;
+}
+  
 /**
   * @brief Моргание светодиодом
 	*/
-void TESTER_LED_Blink(TESTER_LEDTypeDef *led)
+void TESTER_LEDBlink_Handle(TESTER_LEDTypeDef *led)
+{
+  if(led->state == LED_IS_BLINKING)
   {
     uint32_t tickcurrent = HAL_GetTick();
     if((tickcurrent - led->tickprev) > led->period)
@@ -85,3 +108,4 @@ void TESTER_LED_Blink(TESTER_LEDTypeDef *led)
       led->tickprev = tickcurrent;
     }
   }
+}

diode_tester/Core/Tester_main/tester_interface_func.h

@@ -14,9 +14,17 @@
 #include "mylibs_include.h"
 #include "rs_message.h"
 
+typedef enum
+{
+  LED_IS_OFF = 0,
+  LED_IS_ON = 1,
+  LED_IS_BLINKING = 2,
+}TESTER_LEDStateTypeDef;
 
 typedef struct
 {
+  TESTER_LEDStateTypeDef state;
+  
   GPIO_TypeDef  *LED_Port;
   uint32_t      LED_Pin;
   
@@ -46,7 +54,8 @@ typedef struct
 void TESTER_InterfaceInit(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart, TESTER_LEDsTypeDef *leds);
 
 
-
+/* Включить индикацию таймаута старта при активации теста */
+void TESTER_LED_TimeoutForStartTest(TESTER_LEDTypeDef *led);
 /* Включить индикацию прямого подключения диода */
 void TESTER_LED_TestingDiodeForward(TESTER_LEDTypeDef *led);
 /* Включить индикацию обратного подключения диода */
@@ -60,7 +69,9 @@ uint8_t TESTER_ReadSwichStart(TESTER_SwitchStartTypeDef *swstart);
 void TESTER_LED_On(TESTER_LEDTypeDef *led);
 /* Выключить светодиод */
 void TESTER_LED_Off(TESTER_LEDTypeDef *led);
+/* Активировать моргание светодиодом */
+void TESTER_LED_Blink_Start(TESTER_LEDTypeDef *led);
 /* Моргание светодиодом */
-void TESTER_LED_Blink(TESTER_LEDTypeDef *led);
+void TESTER_LEDBlink_Handle(TESTER_LEDTypeDef *led);
 #endif //_TESTER_INTERFACE_FUNC_H_
 

diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c

@@ -14,7 +14,7 @@ void TESTER_Init(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
   
   tester->delay = 250;
   tester->delay_en = 0;
-  tester->htest->adc->chAdc.s
+  
   tester->func.disable_reset_call = 0;
   tester->htest = &hTestDiode;
   TESTER_HandleInit(tester->htest, &tester->leds);
@@ -136,7 +136,7 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
   }
   
   
-  TESTER_LED_Blink(&tester->leds.LED1);
+  TESTER_LEDBlink_Handle(&tester->leds.LED1);
   
 }
 

diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx

@@ -212,6 +212,11 @@
           <WinNumber>2</WinNumber>
           <ItemText>ADC_DMA_HalfBuff,0x0A</ItemText>
         </Ww>
+        <Ww>
+          <count>6</count>
+          <WinNumber>2</WinNumber>
+          <ItemText>\\diode_tester\../Core/Tester_main/tester_main.c\TESTER</ItemText>
+        </Ww>
       </WatchWindow2>
       <Tracepoint>
         <THDelay>0</THDelay>