Добавлены коилы для включения отдельных ключей. Протестирован modbus - работает.

Чуть оптимизированы функции переключения ключей: теперь ifdef для использования HAL функций не в test_func.c а в test_func.h

diode_tester/Core/Interfaces/interface_config.h

@@ -18,18 +18,18 @@
 	@{
 	*/
 
-#define MODBUS_UART_NUMB 							3							///< Номер используемого UART, по нему выставляется дефайн USED_MB_UART = USARTx
+//#define MODBUS_UART_NUMB 							1							///< Номер используемого UART, по нему выставляется дефайн USED_MB_UART = USARTx
 #define MODBUS_SPEED									115200			  ///< Скорость UART для модбас
-#define MODBUS_GPIOX									GPIOB					///< Порт для UART RX/TX
+//#define MODBUS_GPIOX									GPIOA					///< Порт для UART RX/TX
-#define MODBUS_GPIO_PIN_RX						GPIO_PIN_11		///< Пин для UART RX
+//#define MODBUS_GPIO_PIN_RX						GPIO_PIN_9		///< Пин для UART RX
-#define MODBUS_GPIO_PIN_TX						GPIO_PIN_10		///< Пин для UART TX
+//#define MODBUS_GPIO_PIN_TX						GPIO_PIN_10		///< Пин для UART TX
 
-#define MODBUS_TIM_NUMB 							7							///< number of used tim, accord to this define sets define USED_MB_TIM = TIMx 
+//#define MODBUS_TIM_NUMB 							2							///< number of used tim, accord to this define sets define USED_MB_TIM = TIMx 
-#define MODBUS_TIM_AHB_FREQ						72						///< TIM AHB Bus Freq
+//#define MODBUS_TIM_AHB_FREQ						72						///< TIM AHB Bus Freq
 
 // defines for modbus behaviour 
 #define MODBUS_DEVICE_ID 							1			///< девайс текущего устройства
-#define MODBUS_MAX_TIMEOUT 						5000 	///< максимальнйы тайтаут MB is ms
+//#define MODBUS_MAX_TIMEOUT 						500 	///< максимальнйы тайтаут MB is ms
 
 
 #define RS_UART_Init                  MX_USART1_UART_Init
@@ -38,8 +38,12 @@
 #define RS_TIM_DeInit                 HAL_TIM_Base_MspDeInit
 #define rs_huart                      huart1
 #define rs_htim                       htim2
-
+/**
-
+  * @brief    Поменять комманды 0x03 и 0x04 местами (для LabView терминалки от двигателей)
+  * @details  Терминалка от двигателей использует для чтения регистров комманду R_HOLD_REGS вместо R_IN_REGS
+  *           Поэтому чтобы считывать Input Regs - надо поменять их местами.
+  */
+#define MODBUS_SWITCH_COMMAND_R_IN_REGS_AND_R_HOLD_REGS
 
 /////////////////////////////////////////////////////////////////////
 /////////////////////////---CALC DEFINES---//////////////////////////

diode_tester/Core/Interfaces/modbus.c

@@ -126,7 +126,6 @@ void MODBUS_FirstInit(void)
 #endif
 	// set up modbus: MB_RX_Size_NotConst and Timeout enable
 	hmodbus1.ID = MODBUS_DEVICE_ID;
-	hmodbus1.sRS_Timeout = MODBUS_MAX_TIMEOUT;
 	hmodbus1.sRS_Mode = SLAVE_ALWAYS_WAIT;
 	hmodbus1.sRS_RX_Size_Mode = RS_RX_Size_NotConst;
 	
@@ -879,54 +878,18 @@ RS_StatusTypeDef RS_Define_Size_of_RX_Message(RS_HandleTypeDef *hmodbus, uint32_
 
 //-------------------------------------------------------------------
 //-------------------------HANDLERS FUNCTION-------------------------
-#if (MODBUS_UART_NUMB == 1) // choose handler for UART
+//void USART1_IRQHandler(void)
-void USART1_IRQHandler(void)
+//{	
-#elif (MODBUS_UART_NUMB == 2)
+//	Trace_MB_UART_Enter();
-void USART2_IRQHandler(void)
+//	RS_UART_Handler(&hmodbus1);
-#elif (MODBUS_UART_NUMB == 3)
+//	Trace_MB_UART_Exit();
-void USART3_IRQHandler(void)
+//}
-#elif (MODBUS_UART_NUMB == 4)
+//void TIM1_UP_TIM10_IRQHandler(void)
-void USART4_IRQHandler(void)
+//{	
-#elif (MODBUS_UART_NUMB == 5)
+//	Trace_MB_TIM_Enter();
-void USART5_IRQHandler(void)
+//	RS_TIM_Handler(&hmodbus1);
-#elif (MODBUS_UART_NUMB == 6)
+//	Trace_MB_TIM_Exit();
-void USART6_IRQHandler(void)
+//}
-#endif
-{	
-	Trace_MB_UART_Enter();
-	RS_UART_Handler(&hmodbus1);
-	Trace_MB_UART_Exit();
-}
-#if (MODBUS_TIM_NUMB == 1) || (MODBUS_TIM_NUMB == 10) // choose handler for TIM
-void TIM1_UP_TIM10_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 2)
-void TIM2_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 3)
-void TIM3_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 4)
-void TIM4_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 5)
-void TIM5_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 6)
-void TIM6_DAC_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 7)
-void TIM7_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 8) || (MODBUS_TIM_NUMB == 13)
-void TIM8_UP_TIM13_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 1) || (MODBUS_TIM_NUMB == 9)
-void TIM1_BRK_TIM9_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 1) || (MODBUS_TIM_NUMB == 11)
-void TIM1_TRG_COM_TIM11_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 8) || (MODBUS_TIM_NUMB == 12)
-void TIM8_BRK_TIM12_IRQHandler(void)
-#elif (MODBUS_TIM_NUMB == 8) || (MODBUS_TIM_NUMB == 14)
-void TIM8_TRG_COM_TIM14_IRQHandler(void)
-#endif
-{	
-	Trace_MB_TIM_Enter();
-	RS_TIM_Handler(&hmodbus1);
-	Trace_MB_TIM_Exit();
-}
 
 //-------------------------HANDLERS FUNCTION-------------------------
 //-------------------------------------------------------------------

diode_tester/Core/Interfaces/modbus.h

@@ -72,7 +72,7 @@ typedef enum //MB_FunctonTypeDef
 	// reading
 	MB_R_COILS = 			  0x01,			///< Чтение битовых ячеек
 	MB_R_DISC_IN = 		  0x02,		  ///< Чтение дискретных входов
-#ifndef TESTER_MODBUS_SWITCH_COMMAND_R_IN_REGS_AND_R_HOLD_REGS
+#ifndef MODBUS_SWITCH_COMMAND_R_IN_REGS_AND_R_HOLD_REGS
 	MB_R_HOLD_REGS = 	  0x03,			///< Чтение входных регистров
 	MB_R_IN_REGS = 		  0x04,			///< Чтение регистров хранения
 #else

diode_tester/Core/Interfaces/modbus_data.h

@@ -63,7 +63,7 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
 
 // DEFINES FOR INPUT REGISTERS ARRAYS
 #define   R_MEASURED_ADDR                 0
-#define   R_MEASURED_QNT                  1
+#define   R_MEASURED_QNT                  2
 
 // DEFINES FOR HOLDING REGISTERS ARRAYS
 #define   R_SETTINGS_ADDR                   0
@@ -100,22 +100,28 @@ typedef struct //MB_DataInRegsTypeDef
   */
 typedef struct //MB_DataCoilsTypeDef
 {
-  /* reg 1 */
+  /* reg 1 - control */
   unsigned ForwardTest:1;
   unsigned ReverseTest:1;
   unsigned StartTest:1;
-  unsigned reserved:13;
+  unsigned PhaseForwardHiTest:1;
+  unsigned PhaseForwardLoTest:1;
+  unsigned PhaseReverseHiTest:1;
+  unsigned PhaseReverseLoTest:1;
   
-  /* reg 2 */
+  unsigned reserved:9;
+  
+  /* reg 2 - settings */
   unsigned msTimeBeforeTest_enable:1;
   unsigned msTimeDeadtime_enable:1;
   unsigned msTimeBeforePeak_enable:1;
   unsigned msTimeBeforeDisconnect_enable:1;  
+  unsigned reserved2:11;
 }MB_DataCoilsTypeDef;
 
 // DEFINES FOR COIL ARRAYS
 #define C_CONTROL_ADDR                0
-#define C_CONTROL_QNT                 3
+#define C_CONTROL_QNT                 7
 
 #define C_SETTINGS_ADDR               16
 #define C_SETTINGS_QNT                3

diode_tester/Core/Src/main.c

@@ -113,7 +113,6 @@ int main(void)
   {
     TESTER_main_delay(&TESTER);
     TESTER_main_while(&TESTER);
-    HAL_UART_Transmit(&huart1, (uint8_t *)"axaxa", 5, 100);
     
     /* USER CODE END WHILE */
 

diode_tester/Core/Src/stm32f1xx_it.c

@@ -223,7 +223,10 @@ void DMA1_Channel1_IRQHandler(void)
 void TIM2_IRQHandler(void)
 {
   /* USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 0 */
-
+	Trace_MB_TIM_Enter();
+	RS_TIM_Handler(&hmodbus1);
+	Trace_MB_TIM_Exit();
+  return;
   /* USER CODE END TIM2_IRQn 0 */
   HAL_TIM_IRQHandler(&htim2);
   /* USER CODE BEGIN TIM2_IRQn 1 */
@@ -251,7 +254,10 @@ void TIM3_IRQHandler(void)
 void USART1_IRQHandler(void)
 {
   /* USER CODE BEGIN USART1_IRQn 0 */
-
+	Trace_MB_UART_Enter();
+	RS_UART_Handler(&hmodbus1);
+	Trace_MB_UART_Exit();
+  return;
   /* USER CODE END USART1_IRQn 0 */
   HAL_UART_IRQHandler(&huart1);
   /* USER CODE BEGIN USART1_IRQn 1 */

diode_tester/Core/Tester_main/tester_config.h

@@ -106,7 +106,7 @@
 	@{
 	*/
 //#define USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS  ///< По этому дефайну для переключения пинов будут использоваться HAL_GPIO функции
-//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (быстрее десятков мкс)
+//#define RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME ///< По этому дефайну дедтайм отключается. Если отключить и USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS, то переключатся фазы будут почти синхронно (160 нс)
   
 /* Состояния ключей для подключения и откючения питания */
 #define PHASE_CONNECT       1   ///< Ключ замкнут подключено в данном состоянии пина

diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.c

@@ -21,6 +21,8 @@ void TESTER_HandleInit(TESTER_TestHandleTypeDef *htest, TESTER_LEDsTypeDef *leds
   */
 void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 {
+  /* Отключение питания от диода */
+  TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);  
   /* Очистка буферов каналов */
   ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
   
@@ -48,8 +50,7 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   }
   
   /* Отключение питания от диода */
-  TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
+  TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
-  TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
   
   /* Выключение континиус АЦП */
   HAL_ADC_Stop(htest->adc->hadc);
@@ -64,6 +65,8 @@ void TESTER_TestDiode_Forward(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   */
 void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 {
+  /* Отключение питания от диода */
+  TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
   /* Очистка буферов каналов */
   ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
   
@@ -85,8 +88,7 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
   
   /* Отключение питания от диода */
-  TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
+  TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
-  TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
   
   /* Обработка DMA */
   ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
@@ -102,6 +104,8 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   */
 void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
 { 
+  /* Отключение питания от диода */
+  TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
   /* Очистка буферов каналов */
   ClearStruct(htest->adc->chAdc.ADC_Buff);
   
@@ -125,8 +129,7 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   TESTER_Delay(&htest->SwTimings.ticks_before_disconnect, &hmcstim);
   
   /* Отключение питания от диода */
-  TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseReverse);
+  TESTER_Disconnect_AllPhases(&htest->SwPhaseReverse, &htest->SwPhaseForward);
-  TESTER_Disconnect_Phase(&htest->SwPhaseForward);
   
   /* Обработка DMA */
   ADC_DMA_ReadForPeak(htest->adc, ADC_READ_TIMEOUT_MS);
@@ -136,37 +139,45 @@ void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest)
   htest->DiodeReversePeakVolt = htest->adc->chAdc.U_Current;  
 }
 
+
+/**
+  * @brief    Тестирование одного ключа
+  */
+void TESTER_TestOneSwitch(GPIO_TypeDef *SwPort, uint32_t SwPin, uint8_t flag)
+{
+  if(flag)
+  {
+    TESTER_PhaseSwSingle_Set(SwPort, SwPin);
+  }
+  else
+  {
+    TESTER_PhaseSwSingle_Reset(SwPort, SwPin);
+  }
+}
+
 /**
   * @brief    Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
   */
-void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
+void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw)
 {
-#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS // in tester_config.h
+  TESTER_PhaseSw_Set(PhaseSw);
-  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
-#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS  
-  #if (PHASE_CONNECT == 1)
-    DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
-  #else //PHASE_CONNECT == 1
-    DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
-  #endif //PHASE_CONNECT == 1
-#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
 }
 /**
   * @brief    Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
   */
-void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw)
+void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw)
 {
-#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+  TESTER_PhaseSw_Reset(PhaseSw);
-  HAL_GPIO_WritePin(DCSw->SW_Port, DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
-#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
-  #if (PHASE_DISCONNECT == 0)
-    DCSw->SW_Port->BSRR = (DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin) << 16;
-  #else //PHASE_CONNECT == 1
-    DCSw->SW_Port->BSRR = DCSw->SwHI_Pin | DCSw->SwLO_Pin;
-  #endif //PHASE_CONNECT == 1
-#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
 }
 
+/**
+  * @brief    Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
+  */
+void TESTER_Disconnect_AllPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB)
+{
+  TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseA);
+  TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseB);
+}
 /**
   * @brief    Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef
   */
@@ -174,68 +185,40 @@ void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_Phas
 {
   /* Если дедтайм меньше 100 мкс, то сначала запускаем АЦП а потом дедтаймим */
   /* Потому что эта функция по длительности порядка 30 мкс, поэтому дедтайм получается не может быть меньше 30 мкс*/
+  #ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
   if(deadtime->msdelay == 0)
   {
     if(deadtime->ticks < 100)
     {
+  #endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
       /* Включение АЦП */
-      ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);  
+      ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);
+  
+      /* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
+      TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);  
+  #ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
     }
   }
+  #endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
     
-  
+  TESTER_PhaseSw_Reset(SwPhaseA);
-#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
-  
-  HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseA->SW_Port, SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT);
   
   #ifndef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
   /* Ожидается задержка дедтайм */
   TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
-  #endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
   
   /* Включение АЦП */
   ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);    
+  
   /* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
   TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);  
-  
-  HAL_GPIO_WritePin(SwPhaseB->SW_Port, SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT);
-#else // USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
-  #ifdef RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
-    /* Включение АЦП */
-    ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);    
-    /* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
-    TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);  
-      
-    #if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
-      SwPhaseA->SW_Port->BSRR = ((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) | ((SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16));
-    #elif (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
-      SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (((SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16)| (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin));
-    #endif //PHASE_CONNECT && PHASE_DISCONNECT
-
-  #else //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME  
-    #if (PHASE_DISCONNECT == 0)
-      SwPhaseA->SW_Port->BSRR = (SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin) << 16;
-    #else //PHASE_DISCONNECT == 1
-      SwPhaseA->SW_Port->BSRR = SwPhaseA->SwHI_Pin | SwPhaseA->SwLO_Pin;
-    #endif //PHASE_DISCONNECT
-
-    /* Ожидается задержка дедтайм */
-    TESTER_Delay(deadtime, &hmcstim);
-
-    /* Включение АЦП */
-    ADC_DMA_StartRead(hTestDiode.adc);    
-    /* Ожидается задержка, перед предполагаемым скачком */
-    TESTER_Delay(&hTestDiode.SwTimings.ticks_before_expected_peak, &hmcstim);  
-
-    #if (PHASE_CONNECT == 1)
-      SwPhaseB->SW_Port->BSRR = SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin;
-    #else //PHASE_CONNECT == 0
-      SwPhaseB->SW_Port->BSRR = (SwPhaseB->SwHI_Pin | SwPhaseB->SwLO_Pin) << 16;
-    #endif //PHASE_CONNECT
   #endif //RECONNECT_WITHOUT_DEADTIME
-#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+  
+  
+  TESTER_PhaseSw_Set(SwPhaseB);
 }
 
+
 /**
 * @brief    Формирование задержки (в микро или миллисекундная)
   */

diode_tester/Core/Tester_main/tester_func.h

@@ -17,7 +17,33 @@
 /**
   * @brief Хендл микросекундного таймера
   */
-#define hmcstim htim3
+#define hmcstim htim3 
+
+
+#ifdef USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_)      HAL_GPIO_WritePin((_sw_)->SW_Port, (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin, PHASE_CONNECT)
+#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_)    HAL_GPIO_WritePin((_sw_)->SW_Port, (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin, PHASE_DISCONNECT)
+
+#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_)      HAL_GPIO_WritePin((_swport_), (_swpin_), PHASE_CONNECT)
+#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_)      HAL_GPIO_WritePin((_swport_), (_swpin_), PHASE_DISCONNECT)
+#else //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+
+#if (PHASE_CONNECT == 1) && (PHASE_DISCONNECT == 0)
+#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_)      (_sw_)->SW_Port->BSRR = (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin
+#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_)    (_sw_)->SW_Port->BSRR = ((_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin) << 16
+
+#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_)     (_swport_)->BSRR = (_swpin_)
+#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_)   (_swport_)->BSRR = ((_swpin_) << 16)
+#elif (PHASE_CONNECT == 0) && (PHASE_DISCONNECT == 1)
+#define TESTER_PhaseSw_Set(_sw_)      (_sw_)->SW_Port->BSRR = ((_sw_)->SwHI_Pin | _sw_->SwLO_Pin) << 16
+#define TESTER_PhaseSw_Reset(_sw_)    (_sw_)->SW_Port->BSRR = (_sw_)->SwHI_Pin | (_sw_)->SwLO_Pin
+
+#define TESTER_PhaseSwSingle_Set(_swport_, _swpin_)     (_swport_)->BSRR = ((_swpin_) << 16)
+#define TESTER_PhaseSwSingle_Reset(_swport_, _swpin_)   (_swport_)->BSRR = (_swpin_)
+#endif //POWER_CONNECT
+
+#endif //USE_HAL_GPIO_FUNCTIONS
+
 extern TIM_HandleTypeDef htim3;
 
 /**
@@ -85,10 +111,15 @@ void TESTER_TestDiode_Reverse(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
 /* Тест диодов: подключение прямого, а потом обратного напряжения */
 void TESTER_TestDiode_SwitchConnection(TESTER_TestHandleTypeDef *htest);
 
+/* Тестирование одного ключа */
+void TESTER_TestOneSwitch(GPIO_TypeDef *SwPort, uint32_t SwPin, uint8_t flag);
+  
 /* Подключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
-void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
+void TESTER_Connect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw);
 /* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
-void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *DCSw);
+void TESTER_Disconnect_Phase(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *PhaseSw);
+/* Отключить фазу с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
+void TESTER_Disconnect_AllPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB);
 /* Переключить две фазы с помощью ключей (пинов) в TESTER_PhaseSwitchTypeDef */
 void TESTER_Reconnect_TwoPhases(TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseA, TESTER_PhaseSwitchTypeDef *SwPhaseB, TESTER_TicksDelayTypeDef *deadtime);
 /* Формирование задержки (в микро или миллисекундная) */

diode_tester/Core/Tester_main/tester_main.c

@@ -49,6 +49,19 @@ void TESTER_main_while(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
   if(tester->delay_en)
     msDelay(tester->delay);
   
+  
+  /* ПОДТЯГИВАНИЕ СОСТОЯНИЯ КЛЮЧЕЙ С МОДБАС */
+  TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwHI_Pin,
+                        tester->mbdata->Coils.PhaseForwardHiTest);
+  TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseForward.SwLO_Pin,
+                        tester->mbdata->Coils.PhaseForwardLoTest);
+  TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwHI_Pin,
+                        tester->mbdata->Coils.PhaseReverseHiTest);
+  TESTER_TestOneSwitch(tester->htest->SwPhaseForward.SW_Port, tester->htest->SwPhaseReverse.SwLO_Pin,
+                        tester->mbdata->Coils.PhaseReverseLoTest);
+  
+  
+  
   /* ТЕСТ В ОБРАТНОМ ВКЛЮЧЕНИИ */
   if(tester->func.test_diode_reverse)
   {
@@ -106,14 +119,13 @@ void TESTER_InterfaceHandle(TESTER_ProjectTypeDef *tester)
     return;
   
   
-  
-  
   /* считывание режима тестера с модбас */
-  tester->mode = *((TESTER_TestModeTypeDef *)&tester->mbdata->Coils);
+  tester->mode = *((TESTER_TestModeTypeDef *)&tester->mbdata->Coils) & 0x3;
   
   /* если кнопка нажата или пришла соответствующая комманда модбас */
   if(TESTER_ReadSwichStart(&tester->SwStart) || tester->mbdata->Coils.StartTest)
   {
+    tester->mbdata->Coils.StartTest = 0;
     /* Обновление настроек тестера */
     TESTER_UpdateSettings(tester->htest, tester->mbdata);
     switch(tester->mode)

diode_tester/MDK-ARM/diode_tester.uvoptx

@@ -265,6 +265,10 @@
           <Name>System Viewer\ADC1</Name>
           <WinId>35903</WinId>
         </Entry>
+        <Entry>
+          <Name>System Viewer\AFIO</Name>
+          <WinId>35905</WinId>
+        </Entry>
         <Entry>
           <Name>System Viewer\DMA1</Name>
           <WinId>35902</WinId>
@@ -278,8 +282,8 @@
           <WinId>35901</WinId>
         </Entry>
         <Entry>
-          <Name>System Viewer\GPIOC</Name>
+          <Name>System Viewer\USART1</Name>
-          <WinId>35905</WinId>
+          <WinId>35900</WinId>
         </Entry>
       </SystemViewers>
       <DebugDescription>